新型號x射線熒光光譜儀，是日本電子株式會社2006年6月的升級版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評的基礎上，進一步升級產品。該設備具有出眾性能指標，不僅能很好對應rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測試分析。

　 主要特點：液氮制冷型探頭、世界zui高探頭等分辨率、同等時間內zui高檢出限度、測試時間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產品世界各地，在同類型產品中性能，其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評與青睞。

特點

* 短距離傳導光路

* zui高分辨率檢測探頭

* 低檢測下限

* 短測試時間

* 射線過濾機構

* 補正檢量線法

* 簡單的操作界面

* 膜厚測定軟件

* 焊錫鍍層成分分析軟件

規(guī)格:

分析范圍:　na to u（cd,pb,cr,hg,br）

x射線管: 　rh-tube,50kv-1.0ma

樣品室: 　 300mmφ-160mmh

樣品托: 　 1, 16（選購）

準直器:　　ф 1mm；ф3mm； ф7mm

過濾器: 　 4種

樣品環(huán)境: 大氣，真空（選購）

軟   件:   環(huán)境分析軟件包

日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀，不僅可用于一般性分析，還可用于rohs與elv的審查與驗收分析

此款分析儀應對EU（歐盟）電器及電子設備廢料回收（WEEE）和特定有害物質的使用限制（RoHS）指令。

采用新式光學系統(tǒng)、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測器，可以檢測塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質和砷（As）等有毒物質，檢測精度達到ppm數量級