CBI CSI 單晶直探頭用對(duì)比試塊
- 公司名稱 上海越磁電子科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) CBI CSI
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2017/3/12 2:09:27
- 訪問次數(shù) 1207
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滲透探傷檢查，磁粉探傷檢測(cè)，超聲波探傷檢測(cè)，實(shí)驗(yàn)儀器儀表，實(shí)驗(yàn)電極，電化學(xué)儀器，光學(xué)儀器，
中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005
CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊、CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊
適用于板厚6-250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。
奧氏體鋼板材、鎳及鎳合金板材以及雙向不銹鋼板材的超聲檢測(cè)也可參照本章執(zhí)行。用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的剛板時(shí)，采用如圖CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊圖，用單晶直探頭檢測(cè)板厚大于20mm的鋼板時(shí)，CBII試塊應(yīng)符合表4-2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢測(cè)鋼板厚度相近。
CBI超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊,按照中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB4730-2005,階梯:3-22mm
中華人民共和國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 JB4730-2005
JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。
標(biāo)準(zhǔn)試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢測(cè)工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。
對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來確定。
單晶直探頭（CSI）標(biāo)準(zhǔn)試塊
采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合4-3和表4-3的規(guī)定。如確有需要也可采用其他對(duì)比試塊
試塊序號(hào) | CSI-1 | CSI-2 | CSI-3 | CSI-4 |
L | 50 | 100 | 150 | 200 |
D | 50 | 60 | 80 | 80 |
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