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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)測(cè)量?jī)x>橢偏儀>ME-210 橢偏儀

ME-210 橢偏儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京飛凱曼科技有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) ME-210
  • 產(chǎn)地 13718810335 Info@pcm-bj.com QQ1606737747
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2017/7/13 6:33:33
  • 訪問(wèn)次數(shù) 638
產(chǎn)品標(biāo)簽

橢偏儀

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北京飛凱曼科技有限公司為多家國(guó)內(nèi)外高科技儀器廠家在中國(guó)地區(qū)*代理。飛凱曼科技公司一貫秉承『誠(chéng)信』、『品質(zhì)』、『服務(wù)』、『創(chuàng)新』的企業(yè)文化,為廣大中國(guó)用戶提供*的儀器、設(shè)備,Z周到的技術(shù)、服務(wù)和*的整體解決方案。在科技日新月異、國(guó)力飛速發(fā)展的中國(guó),光電技術(shù)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體薄膜薄膜生長(zhǎng)和加工技術(shù)、表面材料物性分析、生物藥物開發(fā)、有機(jī)高分子合成等等領(lǐng)域,都需要與歐美發(fā)達(dá)國(guó)家*接軌的儀器設(shè)備平臺(tái)來(lái)實(shí)現(xiàn)。飛凱曼科技公司有幸成長(zhǎng)在這個(gè)科技創(chuàng)造未來(lái)的年代,我們?cè)敢饣癁橐蛔鶚蛄海?jiàn)證中國(guó)科技水平的提升,與中國(guó)科技共同飛速成長(zhǎng)。

主要產(chǎn)品:
1.
晶圓探針臺(tái)、平板式樣品探針臺(tái)、Mini腔探針臺(tái)、四探針臺(tái)、環(huán)境可控型四探針臺(tái)、高低溫(變溫)探針臺(tái)、霍爾效應(yīng)測(cè)試儀、變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀、塞貝克效應(yīng)測(cè)試儀
2. 在線表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、片狀物在線表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、片狀物離線表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)、智能型視頻表面檢測(cè)系統(tǒng)、自動(dòng)化印刷檢測(cè)系統(tǒng)
3. 日本AET公司微波介電常數(shù)測(cè)試儀
4. 在線粘度計(jì)、便攜式在線粘度計(jì)、高溫粘度計(jì)
5. 高純鍍膜材料:五氧化三鈦、鈦酸鑭、二氧化硅、鑭鋁混合物、氧化鋁、硅鋁混合物、氧化鉭、氧化鈮

6.半導(dǎo)體激光器、波長(zhǎng)穩(wěn)定的半導(dǎo)體激光器、單頻半導(dǎo)體激光器、光纖耦合半導(dǎo)體激光器、光纖激光器、波長(zhǎng)可調(diào)諧單頻激光器、激光諧振腔設(shè)計(jì)軟件

7 體全息光柵(VHG)、脈沖展寬器、脈沖壓縮器、脈沖抑制器、陷波濾波器、ASE抑制濾波器、合束器、多線濾波器、相位掩模版、VHG-FAC、激光穩(wěn)頻元件、氟化鈣(CaF2)晶體、Er:YAG晶體、NdYAG晶體、YbYAG晶體、Ho:YAG晶體、TmYAG晶體、鈮酸鋰晶體(LibO3)、摻鉺玻璃、磁旋光玻璃

8.真空設(shè)備配件:磁控陰極(含圓形和矩形)、氣體質(zhì)量流量器(MFC)、朗謬爾探針、氣體閉環(huán)控制器等

9.日本UNIOPT公司雙折射測(cè)量系統(tǒng)、光彈性模量測(cè)試系統(tǒng)、應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)、磁光克爾效應(yīng)(MOKE)測(cè)試儀、薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀

10.日本APCO公司精密自動(dòng)劃片機(jī)、貼膜機(jī)、清洗機(jī)、撕膜機(jī)

半導(dǎo)體激光器,單頻激光器,探針臺(tái),探針座,表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),霍爾效應(yīng)測(cè)試儀,摻鉺光纖放大器,微波介電常數(shù)測(cè)試儀,在線粘度計(jì)

北京飛凱曼公司提供光子晶體探測(cè)器型成像橢偏儀。這種光子晶體探測(cè)器型的成像橢偏儀是有日本PHL公司*,并應(yīng)用到的測(cè)試中。日本PHL公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域世界,由此開發(fā)出的光子晶體探測(cè)器型具有測(cè)試速度快、測(cè)量準(zhǔn)確、免維護(hù)、價(jià)格低廉等特點(diǎn)已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導(dǎo)體薄膜、有機(jī)薄膜等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。該可快速準(zhǔn)確測(cè)量薄膜的厚度和折射率的分布。

相比傳統(tǒng)的光譜型,光子晶體探測(cè)器型避免了探測(cè)器的機(jī)械運(yùn)動(dòng)。使得測(cè)試速度更快、測(cè)試更加準(zhǔn)確、成本更加低廉。

ME-210型光子晶體探測(cè)器型特點(diǎn):

  1. 可用于8英寸樣品的3D快速成像
  2. 可用于厚度差異小于1nm以內(nèi)的薄膜的快速和高精度成像
  3. 超高速測(cè)量,zui高速度可達(dá)20000點(diǎn)/分鐘
  4. 超高分辨率的測(cè)量,zui小面積可達(dá)50um2
  5. 可進(jìn)行透明基底上的薄膜的測(cè)試

技術(shù)規(guī)格:

型號(hào)

ME-210/110

 

重復(fù)性精度

0.1nm(厚度), 0.001(折射率)

測(cè)量速度

每分鐘1000個(gè)點(diǎn)以上

光源

636nm 半導(dǎo)體激光器

測(cè)量點(diǎn)尺寸

0.5mm2

 

入射角

70

樣品尺寸

8英寸(可選12英寸)

 

儀器尺寸和重量

650x650x1740mm/120kg

 

數(shù)據(jù)接口

千兆以太網(wǎng)(攝像機(jī)信號(hào)),RS-232C

電源

AC100-240V(50/60Hz)

軟件

SE-View

 

詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢我們。

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