礦物和礦石--偏光顯微鏡蔡司LAB-A1

礦物和礦石--偏光顯微鏡蔡司LAB-A1

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舒適的操作條件下進(jìn)行可靠的微觀結(jié)構(gòu)和材料缺陷分析

從三種 Axio Lab.A1 主機(jī)架中為您的應(yīng)用選擇佳配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無(wú)畸變和錐光觀察的 Axio Lab.A1。

在相學(xué)中，Axio Lab.A1廣泛應(yīng)用于高樣品的檢測(cè)。在結(jié)構(gòu)檢測(cè)時(shí)，可以分析屬的微觀結(jié)構(gòu)和晶粒大小或者捕獲導(dǎo)致材料缺陷的相關(guān)機(jī)理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應(yīng)力裂紋和裂縫。 使用1301200萬(wàn)像素的數(shù)碼相機(jī)記錄檢測(cè)結(jié)果。

偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測(cè)犯罪樣品時(shí)用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結(jié)構(gòu)。使用明場(chǎng)、熒光和偏光顯微技術(shù)分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質(zhì)學(xué)家，則可以使用該儀器檢測(cè)巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開(kāi)采。在環(huán)境保護(hù)應(yīng)用中，它還能夠用于辨識(shí)諸如石棉纖維材料的微觀結(jié)構(gòu)。

材料成像

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礦物和礦石

顏色 – 偏光顯微研究

光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的*工具。典型的應(yīng)用是對(duì)礦物的紋理和解離進(jìn)行定性、定量分析及測(cè)定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對(duì)礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識(shí)別各類(lèi)巖石礦物。

檢測(cè)更多的特性

偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時(shí)的組份、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會(huì)影響礦物形貌、結(jié)晶及光學(xué)特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來(lái)源的依據(jù)。

適用于您特定需求的各種觀察方式

借助透射偏光顯微鏡可以對(duì)拋光薄片進(jìn)行研究，運(yùn)用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識(shí)別單個(gè)晶體和礦物顆粒。對(duì)于不透明的礦物，利用明場(chǎng)、暗場(chǎng)、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下，在對(duì)各向異性材料進(jìn)行分類(lèi)時(shí)，對(duì)錐光觀察獲得的干涉圖像進(jìn)行分析的價(jià)值遠(yuǎn)勝于物體本身的圖像信息。

選擇適合的儀器

在礦物學(xué)教育和礦石研究域中，偏光顯微鏡也是您的要選擇，它包括簡(jiǎn)易的觀察系統(tǒng)和的分析型儀器。這類(lèi)顯微鏡永遠(yuǎn)不會(huì)過(guò)時(shí)，并能隨時(shí)進(jìn)行升級(jí)。它可以提供無(wú)應(yīng)力光學(xué)元件、全功能的觀察方式和測(cè)量技術(shù)，正交偏光和錐光鑒定，解理角的測(cè)定，并有多種選配件以及數(shù)字分析功能。

如需獲取更深層的信息

掃描電子顯微鏡是一種多用途的分析儀器，例如可用于礦相分類(lèi)和定量研究及礦物解離分析。礦石 & 礦物表征的常用信號(hào)為背散射電子信號(hào)，它能用于提供化學(xué)信息。