UV757CRT紫外可見分光光度計(jì)
- 公司名稱 上海恒勤儀器設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2023/6/27 21:29:51
- 訪問次數(shù) 1301
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名稱：UV757CRT紫外可見分光光度計(jì)
波長范圍：200nm～1000nm
波長大允許誤差：±0.5nm?
光譜帶寬：2nm
透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)
UV757CRT紫外可見分光光度計(jì) 主要特點(diǎn)：
采用微機(jī)測量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精確，自動調(diào)整0%（T）和調(diào)整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯(lián)樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機(jī)，另行選配）。
聯(lián)機(jī)功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴(kuò)展測試功能（除主機(jī)功能外）。
技術(shù)參數(shù)：
波長范圍：200nm～1000nm
光源：鎢鹵素?zé)?2V20W（進(jìn)口） DD2.5氘燈（進(jìn)口）
接收元件：光電池
波長大允許誤差：±0.5nm
波長重復(fù)性：≤0.2nm
光譜帶寬：2nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% (T）
吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000(A)
透射比大允許誤差：±0.5%（T）
透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)
穩(wěn)定性：≤0.004A/30min
電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
其他同類儀器：
| 主要技術(shù)參數(shù) / 特點(diǎn) | 價格 |
| 波長范圍：200-1000nm，波長精度：±1nm，光譜帶寬：4nm；5.6英寸彩色觸摸屏顯示；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、動力學(xué)，多波長；有USB接口；可連接UVwin8軟件；可選配高速熱敏打印機(jī) | 13000；14000（含打印機(jī)） |
| 波長范圍：200-1000nm，波長精度：±1nm，光譜帶寬：4nm，5.6英寸彩色觸摸屏顯示,自動調(diào)“0%T”“100%T”、帶光譜掃描、具有濃度線性回歸、動力學(xué)，多波長；峰谷檢測等高級功能；有USB接口；可連接UVwin8軟件；可選配高速熱敏打印機(jī) | 15800；16800（含打印機(jī)） |
| 波長范圍：200-1000nm，波長準(zhǔn)確度：±2nm，光譜帶寬：5nm，自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度直讀 | 9800 |
|
| 17800 |
|
| 19800 |
L6紫外 可見分光光度計(jì)（UV765升級版） |
| 21800 |
L6S紫外 可見分光光度計(jì)（UV765升級版） |
| 26000 |
UVWin8軟件 |
| 5800 |
| 29800 | |
| CRT附電腦、打印機(jī)；技術(shù)指標(biāo)同UV757 | 46000 |
| 技術(shù)指標(biāo)同UV765；帶反控軟件 | 29800 |
UV762紫外可見分光光度計(jì) |
| 35000 |
760CRT雙光束紫外可見分光光度計(jì) |
| 68000 |
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