JFD-2000 膜厚測試儀|非接觸膜厚儀專業(yè)供應(yīng)
- 公司名稱 東莞市嘉儀自動化設(shè)備科技有限公司
- 品牌
- 型號 JFD-2000
- 產(chǎn)地 東莞市東城區(qū)主山上三杞工業(yè)大道立洲科技園3號樓501
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2017/3/8 11:36:15
- 訪問次數(shù) 1042
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JFD-2000是一臺非接觸式膜厚檢測儀,采用光學干涉的原理檢測膜厚??梢詼y量同時可測干膜和濕膜。檢測范圍為0.5微米-100微米。
膜厚測試儀使用中的一些注意事項:
1.基體金屬特性
對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2.基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后,可以測量。
3.邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
4.曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
5.讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,表面粗造時更應(yīng)如此。
6.表面清潔度
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