CST-50缺口投影儀是為準(zhǔn)確檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開發(fā)的光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板進(jìn)行比對(duì)，即可快速判定檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格；對(duì)比直觀，操作簡(jiǎn)單，效率高。是理化試驗(yàn)室的*設(shè)備。

CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。

對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45o角且試樣缺口*要求R0.25±0.25），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口*的微小變化（其公差帶只有0.25mm）都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對(duì)缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。

CST-50型沖擊試樣主要技術(shù)指標(biāo)：