XT V 160
中小型電子元器件檢測用的*設(shè)備
對于小型的高裝配密度的印刷電路板，上面大
量的焊接的零件互相重合遮擋，X 射線的透視功能是*的
高效無損檢測手段。 XTV160 為設(shè)計(jì)制造與質(zhì)量分析部門提
供簡捷高效的印刷電路裝配與電子元器件檢查系統(tǒng)。在自
動(dòng)檢測模式下可對樣品進(jìn)行快速檢測，手動(dòng)模式下可以在
軟件中直觀的進(jìn)行高精度操作，操作者可以對樣品中微小
的故障缺陷進(jìn)行可視化確認(rèn)分析以及保存結(jié)果。
主要特點(diǎn)
• 亞微米級的焦點(diǎn)尺寸 NanoTech™射線管
• 快速獲取高品質(zhì)的圖像
• 可以同時(shí)放置多件樣品的大托盤載物臺(tái)
• 可以自定義宏讓工作流程自動(dòng)化
引進(jìn)功能
• 靈活的操作集成到一個(gè)緊湊的系統(tǒng)里
• 人機(jī)交互式的可視化功能
• 全自動(dòng) X 射線檢測功能
• 詳細(xì)分析用的 CT 功能（選配）
• zui大可達(dá) 75° 的傾斜觀測角度
• 直觀的 GUI 界面與交互式操作桿導(dǎo)航功能進(jìn)行快速檢測
• 便于維護(hù)的開管式設(shè)計(jì)使得維護(hù)成本被降低到zui小
• 不需要額外保護(hù)措施的射線計(jì)量安全系統(tǒng)
• 占用空間小，重量輕，安裝設(shè)置簡便
用途
• BGA 檢測分析
• 焊錫空洞檢測
• 通孔檢測
• 芯片銀膠空洞檢測
• 球形引腳連接檢測
• 壓線連接檢測
• 微小 BGA 檢測
• Padarray 檢測