FischerCMS2 STEP庫侖法測厚儀

COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀

電位差，也稱作電勢差或電壓，是衡量單位電荷在靜電場中由于電勢不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V，簡稱伏)，常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓”相似。需要指出的是，“電壓”一詞一般只用于電路當(dāng)中，“電勢差”和“電位差”則普遍應(yīng)用于一切電現(xiàn)象當(dāng)中。

電位差測試方法

　　1、低壓電壓的測量

　　在低壓線路中，欲測某兩點(diǎn)間的電壓，只要把電壓表的兩端直接接到被測的兩點(diǎn)即可。這種方法叫并聯(lián)法。即電壓表是并聯(lián)在線路中。如下圖所示。

　　測量時應(yīng)注意的事項(xiàng)：

　　首先要估計(jì)被測電壓值的范圍，選好檔位，以免損壞儀表。一般以被測量處于zui大量程的2/3左右處較為準(zhǔn)確。測量直流電壓應(yīng)注意極性。

　　測量電壓是帶電進(jìn)行的，因此要注意安全。

作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。 
 
zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確 ?？珊感浴６噱儗永?Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品，也可以用這個 方法進(jìn)行測量

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測量臺：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm

特性
吸引人的設(shè)計(jì)，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
操作簡單，菜單指引的操作提示。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
大約100個預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。
 

測量原理 這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。 
 
  測量印刷線路板上剩余純錫的厚度 
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度： 
 
 
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電 解液*利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。