性能優(yōu)勢(shì)：

直讀光譜儀OES8000采用CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線(xiàn)，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
1.鋼鐵材質(zhì)分析儀器|鋼鐵成分檢測(cè)儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
2.全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
3.樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過(guò)程少于40秒
4.儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員專(zhuān)業(yè)要求低
5.原廠(chǎng)安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，適用合號(hào)齊全
6.配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
7.不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)：
1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑350mm
波長(zhǎng)范圍140 – 800nm
像素分辨率10pm
恒溫34℃±0.5℃
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線(xiàn)密度3600l/mm
一級(jí)光譜線(xiàn)色散率：1.2 nm/mm
3.檢測(cè)器
高性能線(xiàn)陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類(lèi)而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無(wú)待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高450mm 長(zhǎng)750 mm 寬800 mm
85 kg
8.功率
*大功率1500W
待機(jī)功率70W
9.工作條件
工作溫度：15-30℃
相對(duì)濕度：≤70%
10.電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

輔助設(shè)備：
高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車(chē)床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1.全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素
2.基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線(xiàn)，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
3.配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶(hù)處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
4.專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案
5.長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶(hù)提供成熟的測(cè)試方案。
6.測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類(lèi)的分析程序，滿(mǎn)足用戶(hù)各類(lèi)常見(jiàn)測(cè)試需求。
7.分析程序由原廠(chǎng)采用、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專(zhuān)業(yè)儀器軟件擬合、校正。
8.用戶(hù)只需采用原廠(chǎng)配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買(mǎi)大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

核心部件：
1.光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
2.光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線(xiàn)檢測(cè)靈敏、低噪聲
3.光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造，光纖——美國(guó)Agilent制造
4.優(yōu)秀的光室恒溫系統(tǒng)
5.光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫
6.由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定

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