Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號計數(shù)率，使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測量下限。XUV非常適合測量很薄的鍍層和痕量分析。

        采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合，能夠保證每一次的測量都在*佳的條件下完成。在測量的同時，可以直觀地查看測量點的影像。儀器測量空間寬大，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺，既適合測量平面、大型板材類樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品。并且使得連續(xù)測量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡單。儀器配有一個激光定位點作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計以及真空測量箱所帶來的擴(kuò)展的測量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā)，也非常適合過程控制和實驗室使用。

主要特征：

    • 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管，可選鎢管和鉬管。*高工作條件：50 kV, 50W
    • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅漂移探測器
    • 準(zhǔn)直器：4個，可自動切換，從直徑0.1mm到3mm
    • 基本濾片：6個，可自動切換
    • 可編程XYZ工作臺
    • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實際測量點大小。
    • 可在真空，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

    • 測量輕元素
    • 測量超薄鍍層和痕量分析
    • 常規(guī)金屬分析鑒定
    • 非破壞式寶石分析
    • 太陽能光伏產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用實例：

種類、來源和真實性，是評估寶石價值的本質(zhì)特征；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會伴隨有鎂和鈉等元素。另外， Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個領(lǐng)域的應(yīng)用中，非常薄的Al鍍層、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來越重要。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測量結(jié)果有顯著的提高。使用XUV來測量這些鍍層，重復(fù)精度僅幾個納米

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