令樣品呈現(xiàn)水晶般清晰透亮 正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P

如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，偏光顯微鏡將是您的*選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到zui感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。

根據(jù)不同的應(yīng)用，您可以從三種不同的偏光顯微鏡系統(tǒng)中進(jìn)行選擇：

• *編碼的半自動(dòng) Leica DM4 P
• 手動(dòng) Leica DM2700 P
• Leica DM750 P 教學(xué)顯微鏡

了解更多關(guān)于科學(xué)實(shí)驗(yàn)室偏光顯微鏡的信息。

令樣品呈現(xiàn)水晶般清晰透亮 正置偏光顯微鏡 Leica DM4 P, DM2700 P & DM750 P的優(yōu)勢(shì)

徠卡正置偏光顯微鏡助您獲得*結(jié)果

您需要一些組件來實(shí)現(xiàn)偏光研究目標(biāo)。以下都是zui重要的組件：

• 無應(yīng)力光學(xué)部件，因?yàn)槟枰_保觀測(cè)到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件
• LED 照明至關(guān)重要，因?yàn)檫@種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫
• 偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺(tái)幫助您對(duì)準(zhǔn)樣品和光軸
• 您還需要用于對(duì)光軸進(jìn)行錐光觀察的勃氏鏡和用于測(cè)量任務(wù)的補(bǔ)償器 

在本偏光教程中逐步了解。

恰到好處的照明！

徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明，較鹵素照明優(yōu)勢(shì)更加明顯：它比鹵素照明消耗的能源少，而且無需更換，不會(huì)導(dǎo)致機(jī)器停機(jī)，使用壽命長(zhǎng)達(dá) 25,000 小時(shí)。更多優(yōu)勢(shì)：

• LED 為樣品提供均勻照明，色溫恒定，為您提供真實(shí)的樣品形貌
• LED 可快速調(diào)整光強(qiáng)，讓您的工作順暢無阻
• LED 無需日光濾鏡，因?yàn)樗呀?jīng)提供了 4500 K 恒定光溫
• LED 產(chǎn)生的熱量少，因此無需冷卻風(fēng)扇
• LED 可幫助您營(yíng)造安靜無干擾的工作環(huán)境，因?yàn)闆]有冷卻風(fēng)扇在周圍產(chǎn)生噪音

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。

• 進(jìn)行反射率測(cè)量時(shí)必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
• 進(jìn)行雙折射測(cè)量時(shí)則需要使用透射光，例如檢測(cè)地質(zhì)薄片、聚合物薄膜或藥品。
• 在地質(zhì)研究等特殊應(yīng)用中，兩種光都*。

當(dāng)顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時(shí)，相關(guān)物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應(yīng)從 >10 倍的放大倍率開始使用。

M750 P

Leica DM4 P：*服務(wù)唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進(jìn)行各種操作，可以使用 Leica DM4 P半自動(dòng)正置偏光顯微鏡。

通過編碼組件存儲(chǔ)和調(diào)用信息

• 想要更換物鏡時(shí)，可通過照明強(qiáng)度控制和對(duì)比度管理器調(diào)用照明強(qiáng)度和光闌的設(shè)置。
• 得益于編碼物鏡轉(zhuǎn)盤的存在，攝取的圖像始終得到校準(zhǔn)。 

辨識(shí)感興趣的結(jié)構(gòu)

• 25-mm 大視場(chǎng)為您帶來*的概覽圖像。
• 為您展現(xiàn)所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖，而不是細(xì)節(jié)圖 — 比如流動(dòng)結(jié)構(gòu)、變形結(jié)構(gòu)或冷卻過程造成的帶狀排列結(jié)構(gòu)。

讓物鏡轉(zhuǎn)盤來應(yīng)對(duì)！

物鏡轉(zhuǎn)盤配備 6 個(gè)物鏡并具有不同放大倍率的物鏡轉(zhuǎn)盤，獲取豐富的樣品信息。

• 使用 2.5 倍概覽物鏡可識(shí)別樣品中的宏觀結(jié)構(gòu)
• 如要借助錐光法對(duì)光學(xué)屬性進(jìn)行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率
• 切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗(yàn)相反應(yīng)

而且物鏡轉(zhuǎn)盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

研究光學(xué)屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補(bǔ)償器進(jìn)行的修改可以生成有關(guān)研究材料光學(xué)屬性方面的信息。您可以測(cè)定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學(xué)特性。

Leica DM4 P 非常理想地適用于錐光法：

• 具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應(yīng)力物鏡是該項(xiàng)應(yīng)用的*條件。
• 使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級(jí) 5 的zui高要求，從而獲取*結(jié)果