p-100 微光顯微鏡emmi

參考價	￥ 999999
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具體成交價以合同協議為準

公司名稱 儀準科技（北京）有限公司
品牌
型號 p-100
產地 中國臺灣
廠商性質 生產廠家
更新時間 2018/5/4 10:33:19
訪問次數 1324

產品標簽

微光顯微鏡emmi 漏電定位元器件失效分析半導體失效分析 IC漏電檢測

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公司介紹 主營產品

儀準科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務商

主要服務項目：半導體失效分析設備，元器件失效分析可靠性測試

	非破壞性分析
	小型測試機 / 半導體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /

	破壞性分析
	激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機 / 小型半導體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /

	化學處理
	取晶 / 反應離子刻蝕機 / 碼點染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /

	聚焦離子束
	微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 /

	可靠性服務
	預處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實驗(HAST) / HTRB / 老化實驗(Burn in) / 高壓高濕實驗(SPP) /

	靜電測試(ESD/HBM/MM)
	CDM / Latch up / HBM / MM /

	可焊性測試
	沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實驗(Whisker) /

	研磨/拋光等耗材銷售
	Allied / ProbeTips /

展開

探針臺probe，開封機laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀

光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，*的分析工具。器件在設計、生產制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經過外界靜電擊穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而精準的定位到器件的漏電點。我司推出的P-100光發(fā)射顯微鏡(EMMI),在同業(yè)中具有超高的性價比,并憑借良好的售后服務,迅速占領市場.目前大中國地區(qū)的失效分析客戶有: 上海宜碩、深圳宜智發(fā)、上海閎康、上海礬詮、廣州五所、北京電科院、東南大學、樂山菲尼克斯、深圳明微。。。。。。

微光顯微鏡emmi元器件失效分析漏電定位熱點測試

Junction Leakage Oxide Leakage