SZ-PME大顆粒型光電自動(dòng)數(shù)粒儀可對各種主要糧食作物，如稻、麥、高粱玉米等顆粒進(jìn)行自動(dòng)計(jì)數(shù)，在農(nóng)科院（所）農(nóng)業(yè)大專院校、種子系統(tǒng)，糧食部門中、考察種子指標(biāo)，測量千粒重有廣泛應(yīng)用。
SZ-PME-1型
（1） 尺寸:長×寬小于12×4毫米（小顆粒）；
（2） 尺寸:長×寬小于12×10毫米（大顆粒）
尺寸:長×寬小于12×4毫米（小顆粒）
2、 計(jì)數(shù)精度：±4/1000以速度而定。（標(biāo)準(zhǔn)偏差）
3、 計(jì)數(shù)速度：小顆粒大于1000粒/3分鐘；大顆粒500粒/3分鐘
4、 計(jì)數(shù)容量：1~9999由四位LED數(shù)碼管直接讀數(shù)。
5、 自校頻率：f=1~2HZ f=10~20HZ.
6、 預(yù)置自停：1~9999當(dāng)中任意數(shù)值，置0000不計(jì)數(shù)。
7、 外接電源220~±20V~50HZ功率小于20瓦，接地良好。
8、 儀器尺寸：304×234×180毫米。
9、 工作環(huán)境：
大氣壓力：750±30毫米汞柱。
環(huán)境溫度0℃~40℃
相對濕度：20℃時(shí)小于80%
連續(xù)使用時(shí)間：大于四小時(shí)。
10、儀器功能：電路自校，任意計(jì)數(shù)，預(yù)置自停，抽門與送料自鎖。
SZ-PME大顆粒型光電自動(dòng)數(shù)粒儀主要技術(shù)性能

產(chǎn)品簡介
1、符合半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法。
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復(fù)蓋最常用的區(qū)段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報(bào)警功能）
     方塊電阻測量范圍復(fù)蓋最常用的區(qū)段：0.1—1999Ω/□。（可添加方塊電阻小于5Ω/□的報(bào)警功能）
4、配置高精度恒流源，測量電流穩(wěn)定，分兩檔：1mA、10mA，每檔均可在大范圍內(nèi)調(diào)節(jié)（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、測量精度高：電器測量精度優(yōu)于0.3%；
     整機(jī)測量誤差：測量1-100Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±3%。
     測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標(biāo)準(zhǔn)硅片誤差≤±5%。
6、重量輕，約2.5kg；體積?。?40×210×100（mm）。
7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。