ParticleSCAN VP掃描電子顯微鏡

ParticleSCAN VP掃描電子顯微鏡配有 SmartPI 用戶界面的堅固耐用型掃描電子顯微鏡.

ParticleSCAN VP：開創(chuàng)工藝過程控制新標準

ParticleSCAN VP 是蔡司掃描電鏡（SEM）家族的新成員。ParticleSCAN 專為多種工業(yè)應用而開發(fā)，也用于農業(yè)或生產領域。

堅固耐用的設計使其能為自動顆粒度分析提供更高度的靈活和耐用性。這款便攜式儀器能夠實現(xiàn)快速的運輸和安裝。

它通過可變壓力（VP）技術簡化樣品制備，大大提升了制造能力并改善了工作流程。

ParticleSCAN 還安裝有 X 射線能譜儀（EDS）、SmartSEM 軟件及 SmartPI 顆粒度分析軟件。SmartPI 軟件能完成顆粒樣品大小、形狀及化學成份的自動檢測、測量、分類和記錄，并以易于理解的報告方式輸出結果。

ParticleScan VP 應用

7 x 24 小時連續(xù)輸出實時結果，自動校正系統(tǒng)的自診斷功能和自動化軟件更大程度地減少了人工操作；ParticleSCAN 是下列工業(yè)應用的理想選擇：

• 無塵制造

• 采礦業(yè)

• 制藥粉末

• 環(huán)境顆粒