AgilentE4991A射頻阻抗/材料分析儀+16453A夾具 劉小慧 158電8930話0166
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能，幫助他們進行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果?；咀杩咕仁?+/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
材料評估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測量
借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Keysight E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。
溫度特性評估
溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強大的溫度漂移補償功能。
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