SR全光譜反射式膜厚測量儀另有大型膜厚量測儀，針對Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化應用機型

SR全光譜反射式膜厚測量儀特點：

由橢圓儀校正
量測色度坐標
量測時間1-3s ，精確度高
國內自行研發(fā)，價格合理
量測膜厚（N.K)值 .量測穿透率（T%）.反射率（R%）
FFT for very thick layer (up to 50 um)

致東光電奉行“以人為本”的理念，延攬經驗豐富、資質優(yōu)良、充滿活力的人才，與客戶的需求緊密結合，為其提供而可靠的加值型服務。“客戶的滿意是我們的目標”，致東光電遵循“高機動性、高效率、高行動力”的三大方針，目前我們的客戶已經遍及整個IC、TFT-LCD、LED及Solar cell等學術及工業(yè)相關領域，并廣泛得到客戶的認同和喜愛。

我司主營橢偏儀/橢圓偏振儀、反射儀、D8反射儀、膜厚量測儀、太陽能絨面反射儀,紅外光譜儀,其它自動化儀器設備,光時域反射儀OTDR,近紅外光譜儀,太陽光模擬器/太陽能模擬器,便攜式光譜儀,四探針測試儀/四探針系統(tǒng)等