Fast FPX射線熒光光譜，能夠在少標(biāo)樣甚至無標(biāo)樣的情況下對樣品元素成分進(jìn)行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進(jìn)行分析。

*，Fast FPX射線熒光光譜大問題是元素?zé)晒鈴?qiáng)度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強(qiáng)效應(yīng)），與含量通常不是線性關(guān)系。基本參數(shù)法在光譜的計算過程中，已經(jīng)考慮到了基體效應(yīng)，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關(guān)系，使用少數(shù)已知樣品校正算法去除系統(tǒng)誤差，即可達(dá)到精確定量的目的。

1、利用X光管的結(jié)構(gòu)參數(shù)、管流、管壓等計算X射線管出射原級譜；
2、根據(jù)所采用的晶體衍射單色器（或濾光片）結(jié)構(gòu)計算入射到樣品的X射線譜分布；
3、入射到樣品X射線與樣品所含元素作用，計算各元素被激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線；
4、樣品出射熒光X射線進(jìn)入探測器，根據(jù)探測器介質(zhì)與探測器相應(yīng)函數(shù)，計算終探測器輸出的能譜圖；


1、測試未知樣品，得到樣品中元素?zé)晒鈴?qiáng)度分布，根據(jù)解譜算法和初設(shè)各元素含量初始值，計算得到X射線能譜；
2、根據(jù)計算強(qiáng)度與實測強(qiáng)度的差別，計算含量調(diào)整量，得到各元素含量的新值，再計算得到新的X射線能譜；
3、反復(fù)重復(fù)步驟2，經(jīng)過若干次迭代，當(dāng)各元素的特征X射線的計算強(qiáng)度與實測強(qiáng)度差別小于某一個設(shè)定值時，迭代結(jié)束；
4、迭代結(jié)束，計算譜與實測譜基本重合，得到未知樣品中元素含量的定量結(jié)果；

FP（基本參數(shù)）算法是X射線熒光光譜分析的有效方法，能夠在少標(biāo)樣甚至無標(biāo)樣的情況下對樣品元素成分進(jìn)行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進(jìn)行分析。

*，X射線熒光分析大問題是元素?zé)晒鈴?qiáng)度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強(qiáng)效應(yīng)），與含量通常不是線性關(guān)系。基本參數(shù)法在光譜的計算過程中，已經(jīng)考慮到了基體效應(yīng)，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關(guān)系，使用少數(shù)已知樣品校正算法去除系統(tǒng)誤差，即可達(dá)到精確定量的目的。

• 正向計算

1、利用X光管的結(jié)構(gòu)參數(shù)、管流、管壓等計算X射線管出射原級譜；
2、根據(jù)所采用的晶體衍射單色器（或濾光片）結(jié)構(gòu)計算入射到樣品的X射線譜分布；
3、入射到樣品X射線與樣品所含元素作用，計算各元素被激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線；
4、樣品出射熒光X射線進(jìn)入探測器，根據(jù)探測器介質(zhì)與探測器相應(yīng)函數(shù)，計算終探測器輸出的能譜圖；




• 反向迭代

1、測試未知樣品，得到樣品中元素?zé)晒鈴?qiáng)度分布，根據(jù)解譜算法和初設(shè)各元素含量初始值，計算得到X射線能譜；
2、根據(jù)計算強(qiáng)度與實測強(qiáng)度的差別，計算含量調(diào)整量，得到各元素含量的新值，再計算得到新的X射線能譜；
3、反復(fù)重復(fù)步驟2，經(jīng)過若干次迭代，當(dāng)各元素的特征X射線的計算強(qiáng)度與實測強(qiáng)度差別小于某一個設(shè)定值時，迭代結(jié)束；
4、迭代結(jié)束，計算譜與實測譜基本重合，得到未知樣品中元素含量的定量結(jié)果；