Orbis PC型X射線熒光能譜儀靈活易用，為所有的微束熒光能譜應(yīng)用提供的性能。Orbis采用視頻與X射線同軸的設(shè)計，提供2mm至30μm的光斑尺寸，可方便地分析各種樣品，不僅可以分析顆粒和碎片等小樣品，而且可以分析表面粗糙的大塊樣品，具有XRF分析的所有優(yōu)點和便利性。

Orbis PC型X射線熒光能譜儀配有自動塔輪，通過塔輪將視頻和X射線光學(xué)器件集成在一起，允許同軸的樣品觀察和XRF分析。這種幾何設(shè)計提高了樣品定位精度，消除了光束遮擋和陰影。光學(xué)塔輪上還可以增加兩個X-射線準(zhǔn)直器以分析較大的樣品區(qū)域。另外，Orbis提供多種可選的X射線光學(xué)器件，可以在入射束上使用濾波片，提供了真正的微區(qū)XRF分析能力。Orbis增加了工作距離，可以分析粗糙的樣品，并且不損失信號強(qiáng)度。

應(yīng)用
● 刑事司法 碎片、槍擊殘留物（GSR）、墨水、染料和痕量物證
● 工業(yè)質(zhì)量控制和失效分析 金屬磨損碎屑、污染物鑒定、腐蝕分析、材料鑒定、藥品和包裝物
● 無損檢測 博物館文物、紙質(zhì)文件和寶石鑒定
● 材料 金屬、玻璃、陶瓷、水泥、混凝土和催化劑
● 電子設(shè)備 RoSH、涂層厚度與成分和焊點
● 地質(zhì)樣品

主要特點
● 大氣或真空條件下，針對無機(jī)元素的無損檢測
● 無需樣品制備 樣品無需鍍膜
● 相比SEM/EDS，對重元素有更高的靈敏度
● 多個光斑尺寸可選，小可到30微米　　　
● 視頻與X射線同軸設(shè)計，消除了光束遮擋和陰影　　　
● 大面積SDD探測器，進(jìn)一步提高靈敏度（選項）　　　
● 樣品觀察窗快速觀察樣品位置（選項） 

產(chǎn)品規(guī)格
Orbis
● 300或100微米單級毛細(xì)管X射線光學(xué)器件
● 兩種CCD視頻圖像：10×和100×
● 精確的XYZ三軸自動樣品臺

Orbis PC
● 30微米多級毛細(xì)管X射線光學(xué)器件
● 兩種CCD視頻圖像：10×和75x，并帶有三倍數(shù)字放大功能
● 高精確XYZ三軸自動樣品臺

標(biāo)配軟件
● 定性和定量分析，包括FP建模和半經(jīng)驗定量
● 自動多點分析 多達(dá)20,000點的無人值守采樣分析