SZT-C SZT-C快速恒壓四探針測試儀測試臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 蘇州晶格電子有限公司
品牌 其他品牌
型號 SZT-C
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2019/11/14 13:55:38
訪問次數(shù) 489

產(chǎn)品標簽

薄層材料測試臺快速恒壓手動測試臺四探針測試儀測試臺

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公司介紹 主營產(chǎn)品

蘇州晶格電子有限公司是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、經(jīng)銷：教育、科研、生產(chǎn)用電子測量儀器儀表的專業(yè)*。主營導體半導體材料電阻率方塊電阻測試的四探針試儀器、交直流電壓表電流表。公司位于蘇州市吳中區(qū)新家工業(yè)園內(nèi)，比鄰吳中名勝石湖，近連蘇州環(huán)城高速與友新高架，環(huán)境優(yōu)美交通便利。

主要產(chǎn)品：
公司現(xiàn)有導體半導體材料電阻率方阻測試的四探針測試儀系列，可測固體粉末ITO涂層鍍膜的電阻率方阻，有絕緣材料超高阻微電流測試儀系列，有低頻、視頻、寬頻、超高頻各頻段模擬式、數(shù)字式交流毫伏表系列（含真有效值），交直流數(shù)字式電壓、電流、電阻多用表系列等系列等九大系列二百余種產(chǎn)品，并可按客戶要求研制特種測量儀器。JG品牌系列產(chǎn)品，以其*行業(yè)技術功能和*的性價比，已得到越來越多客戶的青睞。廣泛應用于教學、科研、*、生產(chǎn)制造等領域。

研制開發(fā)：
公司不僅配有成套、完備、高檔的研發(fā)硬件設備，更有一批*、高新專業(yè)研發(fā)人才隊伍。采用以SOC單片機為核心的嵌入式系統(tǒng)技術實現(xiàn)的手動自動一體化測量儀器儀表，技術功能*，款式新穎，操作簡便，是本公司產(chǎn)品時新的亮點。
“測量儀器儀表自動化，高檔儀器儀表國產(chǎn)化”是公司當前務實的技術研發(fā)目標。

展開

四探針測試儀系列、粉末電阻率測試儀系列、超高阻微電流測試儀系列、電阻表系列、交直流電壓表電流表系列

詳細信息 在線詢價

產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	價格區(qū)間	1-5千
應用領域	電子/電池	自動化度	手動

SZT-C快速恒壓四探針測試儀測試臺

一、功能與結(jié)構特征概述

圖1.1 配ST2553-F01探頭測硅片圖1.2配ST2558B-F01測ITO薄膜

基本功能：SZT-C快速恒壓四探針測試儀測試臺，是用來裝夾四探針探頭，連接四探針測試儀器，放置樣品，進行手動方式測試的機具。是四探針法測試電阻率/方塊電阻（方阻）儀器的配套測量裝置（以下簡稱測試臺）。

基本組成：主要有載物臺(180mmX180mm凈載物面積)、雙相軌道垂直導向單元、測試壓力調(diào)節(jié)單元、探頭快速升降扳手(頂部戴紅套部分)、探頭連接板等單元。

配套與兼容：本測試臺可選配本公司所有型號的四探針測試探頭，包括鎢針四探針探頭（測試硬質(zhì)樣品用），鍍金合金探頭（測試柔性薄膜或涂層方阻）；本測試臺兼容本公司所有四探針測試儀器。本測試臺加配本公司探頭，可兼容國內(nèi)同行絕大多數(shù)四探針電阻率/方阻測試儀器。

二、可測半導體材料尺寸 （探頭手持方式不限）

直徑或邊長:SZT-C測試臺直接測試方式 Φ15～180mm，或180mm×180mm。

長(或高)度：測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.

測量方位：軸向、徑向均可

三、使用方法

3.1 放置樣品：將測試臺上部操作扳手向上向后、向上升起測試臺探頭，如圖2.1，將樣品放在探頭下方測試臺板上，然后將測試臺上部操作扳手向前向下，壓下探頭。如圖2.1！

3.2壓力調(diào)整：在探頭壓下的狀態(tài)下，可根據(jù)樣品厚度及壓力要求，調(diào)節(jié)測試臺導軌支架中部螺桿上的螺母（先松開鎖緊螺帽），觀察探頭探針壓下程度，調(diào)節(jié)測試壓力?。◤椈蓧嚎s量0～20mm,對應探頭壓力0～2.0K公斤），調(diào)好后，鎖緊鎖緊螺帽。如圖2.2A