一、概述

  高低溫介電溫譜儀，HCWP-S系列高低溫材料介電參數(shù)測量系統(tǒng)是我司開發(fā)研制的全系列寬頻、寬溫區(qū)材料介電參數(shù)測量儀（介電溫譜儀）

   公司開發(fā)的高低溫阻抗、介電測量系統(tǒng)軟件將高溫測試平臺(tái)，高溫測試夾具與WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設(shè)備無縫連接，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)完成高溫環(huán)境下的阻抗、介電參數(shù)的測量與分析。另外，還可以硌腳用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據(jù)實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)，通過測量C和D值，自動(dòng)完成介電常數(shù)和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線。一次測量，同時(shí)輸出，測量效率高、數(shù)據(jù)豐富多樣，是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)和研究新材料的重要測量手段。在生產(chǎn)質(zhì)量控制和優(yōu)化上也是強(qiáng)有力的工具。

二、主要用途

 高低溫介電溫譜儀，用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。

三、測量參數(shù)

四、系統(tǒng)參數(shù)

五、軟件功能

   HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測試需求。具備穩(wěn)定性與性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)。兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面：

• 多語界面：支持中文/英文兩種語言界面

• 即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無需等待

• 圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，了解測試狀態(tài)

• 使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限方便管理

• 故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備故障的報(bào)警功能

六、硬件支持

集成Inter@Celeron1037U1.8GHZ雙核處理器

集成打印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB即可

支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢

七、產(chǎn)品特點(diǎn)

1）高溫介電溫譜儀-高溫介電測量系統(tǒng)

2）測量精度高，控溫，測量頻率寬，抗交流干擾；

3）介電軟件功能，擁有完善的測量系統(tǒng)；

4）直接得出介電常數(shù)實(shí)部和虛部的比值曲線；

5）直接得出復(fù)阻抗實(shí)部和虛部比值曲線的Cole-Cole圖；

6）直接得出機(jī)械因數(shù)Qm；

7）集方案、測量、分析、數(shù)字化顯示于一體集成化設(shè)計(jì)；

8）觸摸屏操作，美觀設(shè)計(jì)，外觀與智能共存；

9）自主研發(fā)設(shè)計(jì)電極系統(tǒng)，重復(fù)性好，穩(wěn)定性高；

10）高溫、寬頻下測量材料的介電；

11）一次只能測量一個(gè)樣品，測量；

12）高溫介電測量系統(tǒng)與安捷倫、穩(wěn)科阻抗產(chǎn)品兼容；

13）多種溫度選型，。

八、系統(tǒng)配置要求

1）電磁鐵：磁場間距可變；能提供工作穩(wěn)定性。

2）電磁鐵電源：具有直流與交流電流模式；要采用真正的雙極四相限電源，提供平滑

的零磁場轉(zhuǎn)換功能和斷水?dāng)嚯姳Ｗo(hù)功能；要求為水冷模式，減少測試噪音，冷卻效果充

分，確保電子器件的有效散熱，設(shè)備穩(wěn)定性好，壽命長。

3）測試儀表，配套的機(jī)柜、安裝支架和電纜。

4）安裝系統(tǒng)軟件的計(jì)算機(jī)一套

高低溫介電溫譜測試儀器

高低溫介電溫譜測試儀器