X-Ray無(wú)損分析儀器
參考價(jià) | ¥ 19 |
訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 倍迎電子科技(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2020/8/21 9:30:59
- 訪問(wèn)次數(shù) 1617
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泰克 Tektronix,尼通 Niton,高美測(cè)儀GMC,羅德與斯瓦茨R&S,德國(guó)EA,日本圖技Graphtec,艾諾Ainuo ,中國(guó)臺(tái)灣致茂Chroma
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,農(nóng)林牧漁,能源 |
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隨著人們對(duì)“X”射線的物性研究和應(yīng)用開(kāi)發(fā),利用X射線技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè),醫(yī)療,軍事,工業(yè)探傷,施工,航海等領(lǐng)域。隨著數(shù)字式X射線成像技術(shù)的發(fā)展,使其檢測(cè)技術(shù)有了進(jìn)一步的發(fā)展,配置上一套設(shè)備(硬件與軟件)作支撐,就可構(gòu)成一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng),簡(jiǎn)稱X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)。
X-Ray無(wú)損分析儀器是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。
X-Ray無(wú)損分析儀可對(duì)金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測(cè),BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統(tǒng)和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內(nèi)部情況分析。
X-Ray無(wú)損分析儀產(chǎn)品特點(diǎn):
●覆蓋部件檢測(cè);
●高分辨率,高清晰度;
●系統(tǒng)高度集成,使用方便;
●檢測(cè)圖像質(zhì)量;
●設(shè)備運(yùn)行安全保障;
●多用途,可自定義工裝夾具;
●人性化軟件設(shè)計(jì),易于操作;
●根據(jù)客戶需求定制,提供解決方案;
●全網(wǎng)售后服務(wù)平臺(tái);
●云平臺(tái),大數(shù)據(jù),追根溯源;
●一鍵進(jìn)出料設(shè)計(jì),省時(shí)省力。