TESCAN AMBER-X FIB-SEM雙束電鏡
- 公司名稱 上海永傲精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2019/10/11 14:52:12
- 訪問(wèn)次數(shù) 1523
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上海永傲精密儀器有限公司是系統(tǒng)集成商，我們的團(tuán)隊(duì)由多年從事清潔度測(cè)試儀，業(yè)納計(jì)量?jī)x器 ，業(yè)納工業(yè)顯微相機(jī)，光學(xué)軸類測(cè)量機(jī)，奧林巴斯金相顯微鏡，科研相機(jī)，電動(dòng)位移臺(tái)集成的設(shè)計(jì)，自主研發(fā)，服務(wù)，銷售人員組成，并向國(guó)內(nèi)外各大汽車零部件生產(chǎn)商提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)，向用戶提供清潔度工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域個(gè)性化，定制化的清潔度檢測(cè)系統(tǒng)方案。
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| 價(jià)格區(qū)間 | 400萬(wàn)-500萬(wàn) | 儀器種類 | 場(chǎng)發(fā)射 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),鋼鐵/金屬,公安/司法,綜合 |
TESCAN AMBER-X FIB-SEM雙束電鏡 是*結(jié)合了分析型等離子FIB和超高分辨（UHR）掃描電鏡的綜合分析平臺(tái)，能夠同時(shí)提供高效率、大面積樣品刻蝕，多模態(tài)的樣品表征，以及在無(wú)鎵注入干擾狀態(tài)下進(jìn)行樣品制備和改性。
TESCAN AMBER X 具備快速精確的等離子體FIB刻蝕和無(wú)漏磁超高分辨SEM成像的特性，使其成為多項(xiàng)研究方案的選擇，例如快速制備出寬度可達(dá)1 毫米的截面; 高通量、多模態(tài)的FIB-SEM斷層掃描，可快速獲得三維重建圖像和可視化數(shù)據(jù); 元素化學(xué)和/或晶體取向研究; 無(wú)注入離子干擾狀態(tài)下制備出微米和納米結(jié)構(gòu)，以便通過(guò)其它分析方法進(jìn)行后續(xù)測(cè)試或表征等。
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