SF750全數(shù)字超聲波探傷儀特點：

時尚外觀、防滑設計
小巧輕薄、攜帶方便               
前面板一體化設計-防水、防油、防塵
按鍵采用輕觸無沖、全點亮設計
*無極支撐設計，手托可自由拆卸
*的方波激勵信號處理技術

?SF750全數(shù)字超聲波探傷儀采用歐盟鑒定標準EN12668-1-2010；提供中英文歐標鑒定報告各一份

產品概述：
SF750--將三豐科技多年的超聲經驗和專家級技術融合到一臺便攜式探傷儀中，采用*的方波激勵信號處理技術，利用人體工程的優(yōu)化結構設計，實現(xiàn)單手操作。

性能特點：

全數(shù)字，真彩顯示器，根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度值可自由設定，領潮國內應用技術。
高壓方波發(fā)射、穿透力強，滿足大型鑄、鍛件探傷的需求。
寬頻帶高分辨率，檢出率高   
脈沖重復頻率可調，避免探傷過程中出現(xiàn)混響信號
發(fā)射電壓、探頭阻尼、脈沖寬度可調，適用于不同材料，不同厚度工件的精準探傷。
SD卡存儲設計，全程、連續(xù)、動態(tài)、大容量實時記錄檢測回波、數(shù)據(jù)
簡便實用的探頭頻譜分析功能，快捷掌握探頭的波形、頻譜和中心頻率，令探傷評價更準確
自動增益，配合峰值回波、圖像凍結功能，快速確定缺陷高波，探傷更高效
波峰記憶：實時檢索缺陷高波，標定缺陷大值
實用AVG：實用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(3N外)
裂紋測高：找準缺陷高波，實時衍射法測高
缺陷定位：實顯水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷定量：實顯SL定量值
缺陷定性：通過包絡波形，人工經驗判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
距離補償：厚工件遠距離探傷實時補償，避免漏檢小缺陷
B型掃描：實時掃查，描述缺陷橫切面
RF（射頻）回波功能：對于薄壁材料測量或學術研究和定性分析有很大幫助
裂紋測高功能：采用斜探頭的端點反射波法計算裂紋高度
門內展寬：可將閘門內回波區(qū)域放大到整個屏幕顯示，便于觀察到某一回波區(qū)域的細節(jié)。
VGA接口，無縫對接投影儀。
存儲數(shù)據(jù)無需主機與電腦連接后安裝驅動，只需通過U盤便將儀器內數(shù)據(jù)快速導出。
內置AWS D1.1/D1.5、API 5UE評價標準        
    
技術參數(shù)：
通道數(shù)：       100組通道
工作頻率：     0.5 ~ 20MHz
總增益量：     120dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調節(jié))
探測范圍：     0 ~ 13000mm(鋼中縱波)
檢波方式：數(shù)字檢波
衰減器精度：<+1dB/12dB
波形顯示方式：射頻波，檢波 (全波、負或正半波)
聲速范圍：     0 ~ 15000m/s
水平線性誤差： ≤ 0.1%
垂直線性誤差： ≤ 3%
動態(tài)范圍：     ≥ 42dB
分辨力：       ≥ 40dB（5N14）
靈敏度余量：   ≥ 70dB （深200mmφ2平底孔）
數(shù)字抑制：     （0 ~ 80）% ，不影響線性與增益
顯示屏：       5.7"高亮彩色TFT顯示屏(640×480)
電源：         直流15V；交流220V
環(huán)境溫度：     （-20 ~ 50）℃（參考值）
相對濕度：（20～95）% RH
工作時間：連續(xù)工作8小時以上（鋰電池供電）
外型尺寸：     228×140×45（高×寬×厚）
重量：         1kg(含電池)