PC-LEPTOSKOP 2050涂層測厚儀是由KARL DEUTSCH 公司提供膜層測厚儀的探頭，它只需和普通電腦的串口線相連。所以普通膜層測厚儀的功能均可通過與WINDOWS操作系統(tǒng)匹配的通用電腦軟件STATWIN 2002來實現(xiàn)。
當(dāng)啟動statwin 2002時，一個真實的涂層測厚儀顯示圖像就可以顯示在個人電腦的屏幕上。 所有功能操作只需點擊一下鼠標(biāo)或鍵盤。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批儲存和管理幾乎任何數(shù)量的測量數(shù)據(jù)。 文件和歸檔幾乎是無限的。 此外，該軟件附帶了大量的統(tǒng)計功能，可以實現(xiàn)測量評估和批次。
除了有測量鐵磁性基體上非鐵磁涂層的厚度（如鋼鐵上的漆層或鉻層）和導(dǎo)電材料上的非導(dǎo)電層涂層的厚度（如非鐵金屬上的漆層） ，測量范圍到1200 μ m的標(biāo)準(zhǔn)探頭，我們還有特殊高精度的、能測量不同的小部位或復(fù)雜的幾何形狀的探頭，雙晶探頭可測量厚度高達(dá)12.5mm，我們同時還提供完整的配件。 
為固定測試有特別的設(shè)計， PC-LEPTOSKOP 2050涂層測厚儀是一個膜層測厚儀。

訂貨信息
STATWIN 2002 電腦軟件 2904.001
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0