MProbe RT MProbe RT薄膜測厚儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海全耀儀器設備有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號 MProbe RT
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/11/21 15:42:35
- 訪問次數 314
產品標簽
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| 價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產業(yè) |
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MProbe RT薄膜測厚儀可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
MProbe RT薄膜測厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
測量范圍: 1 nm -20um(UVVis)，1nm-150um(UVVisNIR)
波長范圍: 200 nm -1000 nm(UVVis)
200nm-1700nm(UVVisNIR)
適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等；
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