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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 >EX3 自動橢圓偏振測厚儀

EX3 自動橢圓偏振測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 南北儀器有限公司
  • 品牌 NANBEI/南北
  • 型號 EX3
  • 產(chǎn)地 河南鄭州金水區(qū)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2021/8/17 14:14:46
  • 訪問次數(shù) 2230
產(chǎn)品標簽

橢偏儀體積小

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


南北儀器有限公司:2008年初成立,持有:南北儀器、NANBEI、南北®等品牌商標,南北儀器是集工貿(mào)一體化的儀器設備集成供應商,在鄭州、北京、香港設有分支辦公機構分別為:南北儀器有限公司、南北科儀(北京)科技有限公司、南北國際集團有限公司,南北儀器已通過ISO9001:2015質(zhì)量管理體系認證、德國萊茵TUV、瑞士SGS認證,部分產(chǎn)品已通過歐盟CE認證和RoHS認證,NANBEI(南北)為海外100多國和地區(qū)客戶提供一站式儀器設備領域解決方案,部分科學儀器產(chǎn)品服務于全球各地。

南北儀器主要經(jīng)營:實驗室儀器,生命科學儀器,化學分析儀器,光學儀器,物性測試儀器及設備,行業(yè)儀器,檢測儀器,種子儀器,農(nóng)業(yè)和食品儀器,石油儀器,煤炭儀器,設備,建筑儀器,公路儀器,地質(zhì)儀器,試劑耗材,制冰機,氣象儀器,環(huán)保儀器,機械設備,測繪儀表等,已在國內(nèi)主要地區(qū)完善產(chǎn)品銷售及售后服務處。

南北儀器所涉及的產(chǎn)品遍布大專院校、科研單位、工廠企業(yè)、商檢、農(nóng)業(yè)、食品、超市、冶金礦山、建筑、石油、路橋等行業(yè),產(chǎn)品以其優(yōu)良的性能,快捷周到的售后服務于國內(nèi)各使用單位,并出口歐洲、美洲、東南亞、亞非、大洋洲等各地,受到國內(nèi)外客商的諸多好評,在生產(chǎn)過程中嚴格執(zhí)行產(chǎn)品制造要求,建立了一套完整的質(zhì)量管理體系,使產(chǎn)品質(zhì)量具有可靠的保證。

隨著科技的日新月異,南北儀器秉承創(chuàng)新、專業(yè)、高質(zhì)的質(zhì)量方針,一直致力于產(chǎn)品的研發(fā)創(chuàng)新,在功能設計、創(chuàng)新、材料、性能等每一個過程嚴格要求,南北儀器擁有專業(yè)的技術、工程師、銷售、售后服務人員,形成一支創(chuàng)新團隊精神的隊伍,在“以誠待人、以德服人、以智行人”的精神感召下,企業(yè)堅守“質(zhì)量至上,服務至上”的經(jīng)營理念,積極研制開發(fā)新產(chǎn)品、結交新客戶,竭誠為客戶提供優(yōu)良的產(chǎn)品和快捷的服務,歡迎國內(nèi)外新老客戶光臨,互利互惠、攜手并進。

 

 

實驗儀器,QS認證整套設備,酒精測試儀,超凈工作臺,水質(zhì)分析儀,顯微鏡

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 1千-5千
應用領域 生物產(chǎn)業(yè),石油,地礦,建材/家具,包裝/造紙/印刷

EX3自動橢圓偏振測厚儀

特點:

消光法橢偏測量原理

儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。

方便安全的樣品水平放置方式

采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。

緊湊的結構

集成設計,簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連,方便儀器使用。

高穩(wěn)定性光源

采用半導體激光器作為探測光的光源,穩(wěn)定性高,噪聲低。

豐富實用的樣品測量功能

可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。

便捷的自動化操作

儀器軟件可自動完成樣品測量,并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。

安全的用戶使用權限管理

軟件中設置了用戶使用權限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用。

可擴展的儀器功能

利用本儀器,可通過適當擴展,完成多項偏振測量實驗,如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。

應用領域:

EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量,也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。

EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質(zhì)存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。

EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)測量原理,針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比,該儀器采用半導體激光器作為光源,穩(wěn)定性好,體積小。
EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量,以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。
EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料(如,金屬、半導體、介質(zhì))的折射率n和消光系數(shù)k。





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