日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV得到了活躍在世界科學領域前沿的學者和研究者的高度評價和 信賴,是X射線衍射儀器的旗艦產(chǎn)品，聚焦法光學系統(tǒng)和平行光束法光學系統(tǒng)可 輕松切換.不需要重新設置,水平測角儀,操作方便,可自由 組合各種附件,適合多種樣品的各種測試，可以進行材料的物相鑒定及定量分析以及研究材料原子尺度結(jié)構(gòu)*、起決定性作用的設備，應力、織構(gòu)、取向度和結(jié)晶度的測定；薄膜物相及物性分析等。

技術(shù)參數(shù)
1、多用途薄膜測試組件；
2、X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC；
3、分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等；
4、X射線發(fā)生器功率為3KW；
5、測角儀為水平測角儀；
6、測角儀小步進為1/10000度；
7、In-Plane測試組件；
8、高速探測器D/teX-Ultra；
9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）；
10、小角散射測試組件；
11、微區(qū)測試組件；
12、測角儀配程序式可變狹縫；
13、高反射效率的石墨單色器；
14、測角儀半徑:185mm,285mm(選購),280mm(TTR)；
15、X射線防護罩:帶故障保險機構(gòu)的開閉式防護罩；
16、X射線發(fā)生器:3kW。

主要特點：
1、高速X-射線檢測器，檢測器的速度和強度大幅提高；
2、全新的軟件設計理念，豐富的內(nèi)容, 簡明流暢；
3、光路系統(tǒng)自動調(diào)整校準：配備X-射線光路自動調(diào)整校準模式；
4、豐富的功能附件保障了儀器升級的可能；
5、水平測角儀：特別適合粉末類樣品，尤其是易于產(chǎn)生取向效應的樣品；
6、全自動狹縫調(diào)整裝置；
7、*的光學系統(tǒng)，可實現(xiàn)交叉光路和平行光路的自動程序互換。

日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯(lián)鎖裝置，在X射線開啟狀態(tài)下無法打開樣品室操作窗。在測試中如果指令樣品室解鎖，則快門關閉同時停止X射線，應用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業(yè)原材料品質(zhì)管理、大學、科研等等，入射和發(fā)散狹縫可選，為您提供所需的分辨率，一維高速探測器、6位樣品自動轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺、氣密樣品臺等，實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，得到高精度測試數(shù)據(jù)，可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進行高質(zhì)量數(shù)據(jù)測試。