臺(tái)式PID(Potential Induced Degradation)
- 公司名稱 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
- 品牌其他品牌
- 型號(hào)
- 所在地上海市
- 廠商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2025/6/26 20:19:37
- 訪問次數(shù) 2312
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MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工 |
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臺(tái)式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
易ID和抗PID的太陽能電池 重現(xiàn)性
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID(Potential Induced Degradation)潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀,用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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標(biāo)準(zhǔn):IEC 62804-TS,SEMI PV75-1016
可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
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