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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>其它測厚儀 >FE-3 嵌入式膜厚檢測儀

FE-3 嵌入式膜厚檢測儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 FE-3
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2020/6/12 16:14:31
  • 訪問次數(shù) 1008
產(chǎn)品標(biāo)簽

膜厚測量

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


大塚電子(蘇州)有限公司成立于20074月,致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LEDOLED等光源和照明行業(yè),產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評估與檢測設(shè)備;用于測量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備;以及評估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測量)設(shè)備,這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本,我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績。為提供全面的售前和售后支持,我們設(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心,努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價(jià)值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價(jià)值和支持服務(wù),做到讓客戶能主動(dòng)向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團(tuán)的一員,繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide

以及大塚集團(tuán)歷代的3個(gè)思想,即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」,并以此行動(dòng)。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品,開展業(yè)務(wù),為社會做出貢獻(xiàn)。

對于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說,天空是無限的。超越它,就會有一個(gè)全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量,為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神,時(shí)刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。

大塚電子,通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品(設(shè)備)服務(wù),在「健康和生活」的領(lǐng)域,不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。



zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 20萬-50萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣

嵌入式膜厚檢測儀 FE-3

嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜!

 

產(chǎn)品信息

特 點(diǎn)

•采用分光干涉法

•搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)

•使用光學(xué)光纖,可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)

•可嵌入至各種制造設(shè)備。

•實(shí)時(shí)測量膜厚

•可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量

•采用壽命長、安全性高的白色LED光源

測量項(xiàng)目

·多層膜厚解析

用 途

•光學(xué)薄膜(超硬涂層、AR薄膜、ITO等)

•FPD相關(guān)(光刻膠、SOI、SiO2等)

設(shè)備構(gòu)成

單點(diǎn)型

•半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量

•玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點(diǎn)型

•實(shí)時(shí)測量

•流向品質(zhì)管理

•真空室適用

導(dǎo)線型

•實(shí)時(shí)測量

•寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

 



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