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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>納米粒度儀>nanoSAQLA 進(jìn)口粒度分析儀

nanoSAQLA 進(jìn)口粒度分析儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號 nanoSAQLA
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2020/6/30 13:23:03
  • 訪問次數(shù) 15359

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大塚電子(蘇州)有限公司成立于20074月,致力于讓中國客戶能安心使用已有50年歷史的日本大塚電子所研發(fā)與生產(chǎn)的測量與分析設(shè)備。

我們的產(chǎn)品涵蓋LED、OLED等光源和照明行業(yè),產(chǎn)品包括有液晶和有機(jī)EL顯示行業(yè)的光學(xué)特性評估與檢測設(shè)備;用于測量半導(dǎo)體晶圓和薄膜化學(xué)品厚度的設(shè)備;以及評估墨水、研磨劑、醫(yī)藥和化妝品材料的納米顆粒(粒徑和ζ電位測量)設(shè)備,這些設(shè)備均應(yīng)用了我們的“光”技術(shù)。

在日本,我們的產(chǎn)品擁有眾多交付實(shí)績。為提供全面的售前和售后支持,我們設(shè)立了技術(shù)和維護(hù)中心,努力提供快速、令客戶滿意并能使客戶感受到關(guān)懷和價(jià)值的服務(wù)。

我們致力于不斷提升產(chǎn)品價(jià)值和支持服務(wù),做到讓客戶能主動(dòng)向他人推薦大塚電子的產(chǎn)品。

我們是大塚集團(tuán)的一員,繼承了集團(tuán)的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health worldwide

以及大塚集團(tuán)歷代的3個(gè)思想,即「流汗悟道」「實(shí)證」「創(chuàng)造性」,并以此行動(dòng)。我們推出創(chuàng)新產(chǎn)品,開展業(yè)務(wù),為社會做出貢獻(xiàn)。

對于那些挑戰(zhàn)可能性邊界的人來說,天空是無限的。超越它,就會有一個(gè)全新的前沿世界。

利用大塚電子的技術(shù)“光”的力量,為業(yè)界提供解決方案是我們的使命。

Otsuka-people creating new products for better health worldwide

傳承大塚的“實(shí)證與創(chuàng)造”精神,時(shí)刻為了實(shí)踐“因?yàn)槭谴髩V所以能做到”、"只有大塚才能做到"的口號而努力奮斗。

大塚電子,通過革新的且富有創(chuàng)造性的產(chǎn)品(設(shè)備)服務(wù),在「健康和生活」的領(lǐng)域,不斷地為人民的生活做著貢獻(xiàn)。



zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 分散方式 濕法分散
價(jià)格區(qū)間 20萬-30萬 儀器種類 動(dòng)態(tài)光散射
應(yīng)用領(lǐng)域 食品/農(nóng)產(chǎn)品,電子/電池,制藥/生物制藥

 nanoSAQLA進(jìn)口粒度分析儀利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量(粒徑0.6nm~10μm)儀器。

追求更高品質(zhì)管理的需求,搭載了各種功能。

可對應(yīng)檢體范圍廣,低濃度~高濃度類,新光學(xué)系,輕便•小型,實(shí)驗(yàn)室標(biāo)配。實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)1分鐘高速測量。

新產(chǎn)品,非浸泡型,不受夾雜物的影響,無自動(dòng)取樣器,“5檢體連續(xù)測量”的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備。

 

進(jìn)口粒度分析儀特點(diǎn)

  • 只需一臺,輕松實(shí)現(xiàn)5檢體連續(xù)測量
  • 低濃度到高濃度都可對應(yīng)
  • 高速測量,標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間1分鐘
  • 搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
  • 內(nèi)置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
  • 搭載溫度梯度功能

 

式樣

型號 多檢體納米粒徑測量系統(tǒng)
測量原理 動(dòng)態(tài)光散射法
光源 高出力半導(dǎo)體激光*1
檢出器 高感光度APD
連續(xù)測量 5檢體
測量范圍 0.6nm ~ 10μm
對應(yīng)濃度 0.00001 ~ 40% *2
溫度 0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
規(guī)格 遵照 ISO 22412:2017
遵照J(rèn)IS Z 8828:2013
遵照J(rèn)IS Z 8826:2005
尺寸 W240 X D480 X H375 mm
重量 約18 kg
軟件 平均粒徑解析 (累積法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布疊寫
逆相關(guān)函數(shù)?殘差plot
粒徑monitor
粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計(jì)算功能

 

*1 根據(jù)激光安全基準(zhǔn) (JIS C6802)級別區(qū)分,本儀器的安全級別為1級。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續(xù)測量時(shí), 15 ~ 40℃ (不對應(yīng)溫度梯度)

 

 

 



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