蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730

[產(chǎn)品簡介]

作為VersaXRM系列中的前沿產(chǎn)品，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730 在科學探索和工業(yè)研究領域為您開啟了多樣化應用的新高度。

采用光學和幾何兩級放大成像架構，可實現(xiàn)大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現(xiàn)高襯度和增強的相位襯度成像。基于出色的高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730拓展了無損成像的研究界限，大大提高了研究靈活性，加快您的研究進展。創(chuàng)新的數(shù)據(jù)采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現(xiàn)對搜索和發(fā)現(xiàn)的感興趣區(qū)域進行高分辨成像，實現(xiàn)從探索到發(fā)現(xiàn)的工作流無縫銜接。全系列的VersaXRM系統(tǒng)都支持快速掃面模式FAST Mode擴展，可實現(xiàn)1分鐘內(nèi)快速三維掃描成像；同時兩款產(chǎn)品均兼容ART高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質量。

[產(chǎn)品特點]

三維無損成像

真實空間分辨率: 500nm@ VersaXRM 615, 450 nm@VersaXRM 730，最小體素40nm

更快的成像速度

特別的大工作距離下高分辨率，可實現(xiàn)不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像

吸收、相位和衍射襯度成像模式

4D 原位成像能力

可升級和拓展

利用AI技術提高成像效率或改善成像質量

[應用領域]

ü                      材料科學，如三維無損分析

ü                      生命科學，如微觀結構成像

ü                      地球科學，如地質、油氣、礦產(chǎn)、古生物等三維成像

ü                      電子和半導體行業(yè)，如形貌測量及失效分析

ü                      原位力學、變溫試驗

ü                      衍射襯度成像，實現(xiàn)三維晶粒取向分析

復合材料                                                    電子半導體                                               生命科學（腦神經(jīng)）

古生物                                                                油氣地質（致密砂巖）