未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗箱概述

1.HAST測試設備通過模擬一個高溫、高濕、高壓、濕熱的環(huán)境，對半導體元器件、IC芯片、磁性材料、多層電路板、PCB、EVA、LCD、晶體硅太陽能電池、硅基芯片、碳基芯片等產(chǎn)品進行密封性能的檢測和作加速壽命試驗。使其快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，是提高試驗效率與縮短產(chǎn)品試驗周期的可靠性試驗設備。

2.圓型內(nèi)箱，SUS304不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，外箱采用高級鋼板烤漆，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結(jié)露滴水設計。

3.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

4.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護。

5.定制型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長packing壽命。

6.試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。

7.三重壓力安全保護裝置，控制器內(nèi)部兩段式超溫保護+機械式壓力安全保護裝置，手動安全保護排壓閥，警急安全保護裝置兩段式自動排壓閥，內(nèi)部定時器當鍋內(nèi)溫度到達后才開始記時以確保試驗完成。

8.觸控液晶顯示屏控制器為精確試驗溫度、濕度、壓力之設定，控制及顯示，PID+SSR控制，誤差±0.1℃。

9.機器開始運轉(zhuǎn)時真空泵補抽出非飽和蒸氣確保達到蒸氣質(zhì)量，精準的壓力指示，誤差±0.1℃。

10.加速壽命試驗的目的是：提高環(huán)境應力（溫度與工作應力施加給產(chǎn)品的電壓、負載），加速試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

HAST高壓加速試驗箱控制系統(tǒng)

1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間LED顯示器控制器, 壓力+指針式顯示表。

2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗規(guī)格：CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL。

3.控制對象：微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度。

4.控制方式：微電腦控制，可程序及定值設定，大1000組程序記憶，每組200段次、999循環(huán)次數(shù)。

5.溫度控制精度：±0.5℃。

6.解析精度：±0.01℃/±0.1%R.H。

7.壓力控制精度：±0.15KG。

未飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗箱技術(shù)指標

1.溫度范圍: ＋105℃～＋135℃。

2.溫度波動度: ±0.5℃。

3.溫度均勻度: ±1.5℃。

4.濕度范圍: 75%～100%R.H。（可范圍內(nèi)調(diào)節(jié)）

5.濕度波動度: ±1.5%R.H。

6.濕度均勻度: ±3.0%R.H。

7.壓力范圍：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。

8.循環(huán)方式: 水蒸氣自然對流循環(huán)。

9.測時間設置：0～999 Hr。

10.加壓時間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約30分鐘。

12.升溫時間: 由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。

13.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。

14.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。

15.關(guān)于溫度上升及下降時間是指風冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時所測量的性能。

16.溫濕度傳感器設置于空調(diào)箱出風口處。

17.溫濕度均勻度定義為：實驗室?guī)缀沃行狞c處，溫濕度時的所測之資料。

18.以上數(shù)據(jù)性能，測量，計算方法參照GB5170.2、GB5170.5的方法測定。

19.hast試驗箱型號及規(guī)格選擇如下:

公司主營產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗箱、恒濕恒濕試驗箱、高低溫試驗箱、步入式溫濕交變試驗室、高低溫濕熱交變試驗機、高溫老化房、快速溫變試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、PCT高壓加速老化試驗箱、紫外線耐候老化試驗箱、非飽和蒸氣壓力試驗箱、氙燈耐候老化試驗箱、耐寒折彎試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、臭氧老化試驗箱、換氣老化試驗箱、恒溫鼓風干燥試驗箱、太陽光伏組件試驗箱、振動試驗機、跌落試驗機、拉力試驗機等可靠性試驗設備以及定做非標機型。