化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>集成電路測(cè)試與分選設(shè)備>探針臺(tái)>CBTZ-3100Z CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)
CBTZ-3100Z CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)
- 公司名稱 深圳市新瑪科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) CBTZ-3100Z
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/27 15:18:18
- 訪問(wèn)次數(shù) 2464
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示波器,電子負(fù)載,熱像儀,邏輯分析儀,頻譜分析儀,數(shù)據(jù)采集器,安規(guī)綜合測(cè)試儀,交直流電源,電磁兼容EMC測(cè)試和EMC整改的解決方案,
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件,電氣 |
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CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)
能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試,
操作簡(jiǎn)單,快捷,測(cè)試精度高,具有MAP顯示功能。
它與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試 。
CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)
主要技術(shù)參數(shù)
可測(cè)片型:3 inch、 4 inch
測(cè)試硅片單元尺寸:20—200 mil
定位精度:≤ ±0.01mm/110mm
自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)精度:±0.01mm
誤測(cè)率:≤ 1 ‰
全自動(dòng)對(duì)位時(shí)間:≤ 15 s
測(cè)試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進(jìn)分辨率:0.001
Z向行程:0~5mm 可調(diào)
承片臺(tái)轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍:±20o
能 對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試,操作簡(jiǎn)單, 快捷,測(cè)試精度高,具有MAP顯示功 能。它與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成 對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能 測(cè)試 。 | ![]() |
操作方式自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái) 機(jī)器軟件的操作界面 |
除此之外還提供了更加簡(jiǎn)潔 方 便的小鍵盤(pán)操作方式,操作者可依據(jù) 個(gè)人偏好和習(xí)慣選擇任意種操作 。 功能小鍵盤(pán) |
機(jī)器功能具有自動(dòng)掃描對(duì)位功能,對(duì)位精度 | 具有圓形測(cè)試,范圍重測(cè),探邊 測(cè)試,范圍打點(diǎn),回收測(cè)試,矩形 測(cè)試和脫機(jī)打點(diǎn)多種測(cè)試功能。 ![]() |
具有X、Y、Z三軸運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu),操作軟 件能對(duì)垂直度、平面度進(jìn)行精度補(bǔ)償,保 證機(jī)器的控制精度和工作的穩(wěn)定性。 ![]() | 具有實(shí)時(shí)打點(diǎn)、脫機(jī)打點(diǎn)和滯 后打點(diǎn)功能。新型打點(diǎn)器,使用時(shí) 間長(zhǎng)達(dá)3天,不滴墨,省去60%的操作時(shí)間。 ![]() |
具有Z軸行程分段運(yùn)動(dòng)功能,其 分為基本高度、接觸高度、接觸緩沖、 過(guò)沖高度和折回高度,并且具有探邊 功能,防止測(cè)試過(guò)程中探針對(duì)芯片的 劃傷和探針與芯片的接觸不良。 ![]() | 測(cè)試針痕比例圖片(反光白點(diǎn)為針痕) 多個(gè)芯粒 單個(gè)芯粒 |
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