銷售租賃AOI光學(xué)檢測儀TR7550
參考價 | ¥ 80000 |
訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/7/20 9:24:16
- 訪問次數(shù) 330
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保修期限 | 無 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
---|---|---|---|
產(chǎn)品成色 | 9成新 | 使用年限 | 1年以內(nèi) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
銷售租賃AOI光學(xué)檢測儀TR7550
品牌:德律
型號:TR7550
加工定制:否
類型:AOIguangxueji光學(xué)檢測儀
• 高速在線型彩色AOI具備完整檢測涵蓋范圍
•jing zhun的3-CCD彩色相機可檢測01005微小元件
• *的RGB+W光源設(shè)定系統(tǒng),可以提升錫點與標點之檢測力
• 線性馬達之X-Y 平臺提供無震動jing zhun檢測
• 相機類型 1個上視 3CCD 彩色相機 + 4個 側(cè)視黑白相機
• 光學(xué)分辨率 10 µm, 15 µm,20 µm 或25 µm
• X-Y 平臺及控制系統(tǒng) 線性馬達+光學(xué)尺及DSP控制器
• 檢測速度
110 cm2/sec @ 25 µm
72 cm2/sec @ 20 µm
• 檢測功能
。本體缺陷 缺件、立碑、側(cè)立、極反、偏移、錯件、反件、損件等
。焊點缺陷 多錫、少錫、橋接/短路、DIP類元件吃錫、IC翹腳、金手指表面刮傷黏錫缺損
• 爐前 / 爐后整合
良率管理系統(tǒng)
• 電路板尺寸
。電路板可測尺寸 TR7550 50 x 50 – 510 x 460 mm
TR7550L 50 x 50 – 660 x 610 mm
TR7550LL 50 x 50 – 850 x 610 mm
。電路板可測厚度 0.5 – 5 mm
銷售租賃AOI光學(xué)檢測儀TR7550
TRI 之自動光學(xué)檢測(AOI, Automated Optical Inspection)機系列,針對輕薄短小、密度高之電子產(chǎn)品的檢測需求而開發(fā),利用光學(xué)影像的檢測,在不需測試治具、不需電子量測且不破壞產(chǎn)品的情況下,可有效檢出組件的各種不良制程。AOI除了可避免傳統(tǒng)人工目檢的不穩(wěn)定因素,亦可加速檢測時間,有效為產(chǎn)品的質(zhì)量把關(guān),提高產(chǎn)能及減少生產(chǎn)、維修成本。TRI 使用了動態(tài)取像技術(shù),提供高速且清晰之電路板實際影像,且不需更動軟硬件即適用于回焊爐前或爐后的檢測。
TR7550檢測設(shè)備,除了沿襲了TR7500優(yōu)異的燈光及攝影機架構(gòu),更加強使用線性馬達及光學(xué)尺,提供更jing/zhun的滑臺系統(tǒng)。上方視角使用3CCD彩色攝影機,提供人員更直覺的彩色影像,可搭配的高分辨率為10um,檢出能力及測試涵蓋率更好。
TR7550 SII 、除了提供shuang gui結(jié)構(gòu)的選擇之外,升級到 64 位的作業(yè)環(huán)境可避免 32 位內(nèi)存限制問題。此關(guān)鍵的升級并配合多核心計算技術(shù),提供強大的運算能力,以提高操作系統(tǒng)效能。加上擴充的儲存容量,不僅 FOV 畫素倍增,減少掃描道數(shù),可減少一半檢測時間,并提供 TR7550 升級方案,為一更*的 PCBA 檢測架構(gòu)。
產(chǎn)品特色
以動態(tài)取像方式檢測,具備高檢測速度的在線AOI系統(tǒng),線性馬達搭配光學(xué)尺,高精度高穩(wěn)定度的滑臺移動控制系統(tǒng),上視加上四角度之多角度攝影機系統(tǒng),及優(yōu)異的檢測運算技術(shù),提供超高檢出能力及增強缺陷測試涵蓋率的無鉛及微形片式組件(Fine Pitch/01005)檢測能力
高分辨率3CCD彩色攝影機
RGB LED彩色燈盤,多重角度光源調(diào)整系統(tǒng)
ATPG流程引導(dǎo)使用者快速簡易完成程序制作
模塊化的機體設(shè)計,增加維修及保養(yǎng)的便利性
搭配維修站系統(tǒng),以人性化的圖形接口有效幫助人員進行缺點的覆判,亦提供統(tǒng)計制程管制(SPC)之計算及報表輸出與YMS連結(jié)可進行生產(chǎn)線數(shù)據(jù)整合分析
配備上視3-CCD彩色相機及四個傾斜角度相機以優(yōu)化測試涵蓋率,TR7550自動光學(xué)檢測機利用TRI的動態(tài)取像技術(shù),能避免如走停式取像所產(chǎn)生的震動,提供更穩(wěn)定的爐前爐后檢測。搭配多區(qū)域且高彈性的RGB+W彩色光源系統(tǒng),配合低角度的光源設(shè)計,可提供極性及黑色元器件更好的檢測方案,并且可針對無鉛和傳統(tǒng)組裝電路板上的微小元件01005及提供更穩(wěn)定的檢測能力。