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弗萊貝格--SDCOM 小晶體樣品臺(tái)式X射線(xiàn)單晶定向儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) 弗萊貝格--SDCOM
  • 產(chǎn)地 德國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/8/6 21:21:58
  • 訪問(wèn)次數(shù) 2988

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂(lè)觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶(hù)帶來(lái)質(zhì)量較高的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶(hù)提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶(hù),如高校、科研院所、航空航天、國(guó)家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工業(yè)企業(yè),產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。公司的宗旨:為客戶(hù)量身打造適合的綜合解決方案,技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù),系統(tǒng)高效的客戶(hù)培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營(yíng)儀器設(shè)備:

--高分辨X射線(xiàn)顯微CT、多量程X射線(xiàn)納米CT、X射線(xiàn)衍射儀、X射線(xiàn)熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀(ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線(xiàn)晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線(xiàn)面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等--德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商



單位名稱(chēng):束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室









MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線(xiàn)斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)

價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類(lèi) 雙晶衍射
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,電氣

 

?技術(shù)特點(diǎn)

 --能夠測(cè)量小至1mm的晶體到或更大的樣品

 --各種樣品架及輸送夾具,用于線(xiàn)鋸、拋光等

 --側(cè)晶方向標(biāo)記選項(xiàng)

 --SDCOM小晶體樣品臺(tái)式X射線(xiàn)單晶定向儀無(wú)水冷卻

 --精可達(dá)0.01°(視晶體質(zhì)量而定)

 --確定單晶的*晶格取向

 --使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量

 --氣冷式X射線(xiàn)管,無(wú)需水冷

 --適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制

 --手動(dòng)操作(沒(méi)有自動(dòng)化選項(xiàng))

 

晶體的方向是由反射位置決定的

 

?SDCOM可測(cè)材料

 --立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP 

 --立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

 --正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4

 --六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(藍(lán)寶石),GaPO4, La3Ga5SiO14

 --斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3

 --可根據(jù)客戶(hù)的要求進(jìn)一步選料 

適合多種材料

 

?行業(yè)應(yīng)用
 

平面方向的標(biāo)記和測(cè)量

 --在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中,需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中,晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。

 --為了確定平面或缺口的位置,就需要測(cè)量平面內(nèi)的部件。由于Omega掃描法可以在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位,基于此,便可以直接識(shí)別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。

 --SDCOM小晶體樣品臺(tái)式X射線(xiàn)單晶定向儀通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán),可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶(hù)的特定位置。在必須定義平面方向的情況下,這可以大大簡(jiǎn)化將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的過(guò)程。



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