HC-900B兩廂提籃式冷熱沖擊箱

>>產(chǎn)品簡介

兩廂提籃式冷熱沖擊箱，用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu)，在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬、塑料、橡膠、電子...等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

>>產(chǎn)品特點(diǎn)

1、試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)形式：試驗(yàn)箱采用整體式組合結(jié)構(gòu)形式，既試驗(yàn)箱由位于上部的高溫試驗(yàn)箱，位于下部的低溫試驗(yàn)箱體、位于后部的制冷機(jī)組柜和位于左側(cè)后板上的電器控制柜(系統(tǒng))所組成。此方式箱體占地面積小、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀，制冷機(jī)組置于獨(dú)立的機(jī)組箱體內(nèi)，以減少制冷機(jī)組運(yùn)行時(shí)的震動(dòng)、噪聲對(duì)試驗(yàn)箱的影響，同時(shí)便于機(jī)組的安裝和維修，電器控制臺(tái)置于試驗(yàn)箱的左側(cè)板上以便于運(yùn)行操作。產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*進(jìn)、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

2、設(shè)備分為高溫槽、低溫槽、測試槽三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測物在高溫槽與低溫槽之間移動(dòng)轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

3、采用*進(jìn)的計(jì)測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)界面控制器,操作簡單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4、具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定,沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，僅限于程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止工作運(yùn)行;

5、箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。

6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

7、具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高.

>>技術(shù)參數(shù)

1.提籃尺寸： 710*345*410MM(W*H*D)(備注：50L內(nèi)箱尺寸：WHD=500*300*320MM)

2. 外部尺寸： 1330*2130*1670MM(W*H*D)

3.試驗(yàn)槽溫度設(shè)定范圍：-55℃～+150℃

4.高溫槽溫度設(shè)定范圍: +65℃～150℃

5. 低溫槽溫度設(shè)定范圍:-10℃～-65℃;

6.降溫時(shí)間： +20℃～-55℃≤60min;(注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能)

7.試驗(yàn)方式：試驗(yàn)時(shí)待測物在高溫槽與低溫槽之間移動(dòng)轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的

8.溫度波動(dòng)度： ±0.5℃

9.溫度均勻度: ±2.0℃(依量測規(guī)范:量測SENSOR置放點(diǎn),離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)

10.沖擊復(fù)歸時(shí)間：-40℃～150℃約需5分鐘

11.試驗(yàn)槽轉(zhuǎn)換移動(dòng)時(shí)間:≦10S

12.高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30分鐘

13.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。