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qirui 光學(xué)薄膜測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 上海騏銳信息科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 qirui
  • 產(chǎn)地 上海
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時間 2020/11/1 0:54:29
  • 訪問次數(shù) 3356
產(chǎn)品標(biāo)簽

光學(xué)薄膜測厚儀

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上海騏銳信息科技有限公司專注于行業(yè)領(lǐng)域,高低溫介電常數(shù)/高低溫下電性能測試系統(tǒng)/工業(yè)自動化/精密儀器/航空航天高性能材料測試系統(tǒng)、傳感器生產(chǎn)與技術(shù)服務(wù)。我們以技術(shù)創(chuàng)新為核心驅(qū)動力,致力于為客戶提供高效、智能、定制化的設(shè)備解決方案,助力全球客戶提升生產(chǎn)效率、優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量并實現(xiàn)可持續(xù)發(fā)展。

核心技術(shù)優(yōu)勢:

? 研發(fā)實力

擁有一支由資深工程師、行業(yè)專家及高??蒲袌F隊組成的復(fù)合型研發(fā)團隊,累計獲得多項發(fā)明專利及實用新型專利。

? 技術(shù)亮點

自主研發(fā)核心產(chǎn)品技術(shù),如:高低溫下介電常數(shù)/材料電性能高低溫測試/模塊化設(shè)備架構(gòu)/能耗優(yōu)化系統(tǒng)等。

采用數(shù)字化仿真/工業(yè)大數(shù)據(jù)分析/虛擬調(diào)試等先進技術(shù),縮短研發(fā)周期30%以上。

? 產(chǎn)學(xué)研合作

與高校/科研院所名稱建立合作,共同攻關(guān)行業(yè)關(guān)鍵技術(shù)難題。

 

產(chǎn)品與服務(wù)體系:

?? 核心產(chǎn)品線

1. 智能生產(chǎn)線集成:面向制造業(yè)的自動化裝配、檢測及自動化測試系統(tǒng)。

2. 專用設(shè)備定制:材料測試系統(tǒng)、半導(dǎo)體精密加工設(shè)備、新能源電池模組封裝設(shè)備等。

3. 智能運維平臺:設(shè)備遠程監(jiān)控、預(yù)測性維護及數(shù)據(jù)分析服務(wù)。

?? 服務(wù)模式

- 全生命周期支持:從需求分析、方案設(shè)計到安裝調(diào)試、售后維保的一站式服務(wù)。

 

成功案例

研發(fā)的設(shè)備型號獲獎項/認證

服務(wù)覆蓋行業(yè)領(lǐng)域,如:汽車制造/生物醫(yī)藥/光伏新能源頭部企業(yè)

我公司與以下國內(nèi)外廠商建立了長期合作關(guān)系:日本安立公司、美國泰克Tektronix 公司、南京盛普、Sample 公司 、美國福祿克Fluke 公司、北京普源精電 、Rigol公司、美國安捷侖Agilent公司、中國臺灣茂迪Motech公司、美國艾法斯 Aeroflex公司、 中國臺灣固緯Goodwill公司、美國吉時利Keithley公司、日本巖崎Iwatsu公司、美國國家儀器NI公司、日本愛德萬 Advantest公司、美國Magtrol公司、德國惠美Hameg公司、韓國Tescom公司、安徽41所、韓國金進 Jungjin公司、常州同惠等。

 

 

電子儀器儀表 材料測試

產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣

光學(xué)薄膜測厚儀

薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān),因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù),我們的薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原

光反射薄膜測厚儀
原產(chǎn)國:美國
薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān),因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、且快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù),我們的薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度。
該產(chǎn)品是一款價格適中、功能強大的膜厚測量儀器。近幾年,每年的銷售量都超過200臺。根據(jù)型號不同,測量范圍可以從10nm到250um,它可以同時測量4個膜層中的3個膜層厚度(其中一層為基底材料)。該產(chǎn)品可應(yīng)用于在線膜厚測量,測氧化物、SiNx、感光保護膜和半導(dǎo)體膜,也可以用來測量鍍在鋼、鋁、銅、陶瓷和塑料等上的粗糙膜層。
 
應(yīng)用領(lǐng)域 

理論上講,我們的光干涉膜厚儀可以測量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下為我們熟悉的應(yīng)用領(lǐng)域(半導(dǎo)體薄膜,光學(xué)薄膜涂層,在線原位測量,粗糙或弧度表面測量):
- 晶片或玻璃表面的介電絕緣層(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...);
- 晶片或玻璃表面超薄金屬層(Ag, Al, Au, Ti, ...);
- DLC(Diamond Like Carbon)硬涂層;SOI硅片;
- MEMs厚層薄膜(100μm up to 250μm);
- DVD/CD涂層;
- 光學(xué)鏡頭涂層;
- SOI硅片;
- 金屬箔;
- 晶片與Mask間氣層;
- 減薄的晶片(< 120μm);
- 瓶子或注射器等帶弧度的涂層;
- 薄膜工業(yè)的在線過程控制;等等…

 

軟件功能 
豐富的材料庫:操作軟件的材料庫帶有大量材料的n和k數(shù)據(jù),基本上的常用材料都包括在這個材料庫中。用戶也可以在材料庫中輸入沒有的材料。
軟件操作簡單、測速快:膜厚測量儀操作非常簡單,測量速度快:100ms-1s.
軟件針對不同等級用戶設(shè)有一般用戶權(quán)限和管理者權(quán)限。
軟件帶有構(gòu)建材料結(jié)構(gòu)的拓展功能,可對單/多層薄膜數(shù)據(jù)進行擬合分析,可對薄膜材料進行預(yù)先模擬設(shè)計。
軟件帶有可升級的掃描功能,進行薄膜二維的測試,并將結(jié)果以2D或3D的形式顯示。軟件其他的升級功能還包括在線分析軟件、遠程控制模塊等。



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