日本napson光伏非接觸式PN判定裝置

光伏非接觸式PN判定裝置

產品名稱：PN-50α

產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）

產品特點

• 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
• 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
• 還可以確定表面上有氧化膜的晶片

測量規(guī)格

測量目標

與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

支持2英寸或更大的錠塊

測量范圍

可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm

產品特點

• 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
• 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
• 還可以確定表面上有氧化膜的晶片

測量規(guī)格

測量目標

與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

支持2英寸或更大的錠塊

測量范圍

可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm

產品特點

• 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
• 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
• 還可以確定表面上有氧化膜的晶片

測量規(guī)格

測量目標

與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

支持2英寸或更大的錠塊

測量范圍

可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm

產品特點

• 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
• 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
• 還可以確定表面上有氧化膜的晶片

測量規(guī)格

測量目標

與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

支持2英寸或更大的錠塊

測量范圍

可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm

日本napson光伏非接觸式PN判定裝置