一、系統(tǒng)介紹

     FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統(tǒng)是東譜科技HiTran瞬態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統(tǒng)利用飛行時間法(time-of-flight, TOF)測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用于各類半導體材料，如有機半導體、金屬-有機框架（metal-organic framework, MOF）、共價有機框架（covalent organic framework, COF）、鈣鈦礦材料等。FlyTOF系統(tǒng)是一款高度集成化的光電測試系統(tǒng)，配備便捷的上位機控制和數(shù)據(jù)測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。

二、產(chǎn)品特點

• 測試過程由軟件控制，UI界面友好，操作便捷；  

• 帶樣品倉，方便更換樣品和電學互聯(lián)；

• 帶位移功能，方便對同一基片上的不同器件進行測試；

• 所有光路均置于封閉暗箱內(nèi)，無外界光源影響；

• 光路進行了優(yōu)化設置，一般不需要額外調(diào)整光路；

• 可根據(jù)需要集成偏置光或多光束激發(fā)；

• 可靈活耦合不同類型激光器進行測試；

• 可集成其他定制功能。

三、系統(tǒng)典型參數(shù)表

1. 可選激發(fā)光源：OPO激光器，氮氣激光器，半導體激光器

2. ^*數(shù)據(jù)采集模塊： 1 GS/s - 10 GS/s sampling

3. ^*偏壓電源

4. ......

        產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置。

 FlyTOF飛行時間法遷移率測量系統(tǒng)開放測試，歡迎各位新老客戶咨詢并測試樣品！