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XE15 大樣品臺工業(yè)原子力顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
產(chǎn)品標(biāo)簽

原子力顯微鏡納米測量Park XE15

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八帆儀器設(shè)備(上海)有限公司是創(chuàng)建于2017年,是集測試測量、研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)為一體的高科技公司,亞太區(qū)總部位于中國上海。并在北京設(shè)立辦事處。八帆儀器設(shè)備(上海)有限公司致力于代理和應(yīng)用*成熟的測試測量儀器及技術(shù),應(yīng)用于材料,物理,光學(xué),化學(xué),生物等領(lǐng)域。同時與國內(nèi)外研發(fā)機(jī)構(gòu)合作研究開發(fā)高精密測試測量技術(shù)及設(shè)備定制。有各*機(jī)構(gòu)的技術(shù)支持,匯集有行業(yè)的精英技術(shù)團(tuán)隊,負(fù)責(zé)產(chǎn)品及方案設(shè)計、生產(chǎn)制造、售前售后服務(wù)。

原子力顯微鏡,原子力拉曼,有機(jī)合成質(zhì)譜儀,制備色譜,納米紅外光譜儀,掃描近場光學(xué)顯微鏡,電鏡下原子力,微米級3D打印機(jī),

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

Park XE15大樣品臺工業(yè)原子力顯微鏡概述:

Unique MultiSample™ scan boosts research productivity

Park XE15能夠一次性掃描和測量多個樣品,讓您的效率一高再高。您只需要將樣品放入工作臺,再啟動掃描程序便可。該功能也可以讓您在相同的環(huán)境條件下掃描樣品,從而提高數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

Large sample size increases possibilities

與大多數(shù)的原子力顯微鏡不同,Park XE15可掃描大尺寸為200 mm x 200 mm的樣品。這樣既滿足了研究員對掃描大樣品的需求,也讓故障分析工程師能夠掃描硅片。

Features adaptable to any need

Park XE15配有絕大多數(shù)的掃描模式,可掃描各種尺寸的樣品。得益于此,Park XE15是共用實驗室的配置,能夠滿足每個人的需求。

Park XE15大樣品臺工業(yè)原子力顯微鏡技術(shù)信息:

使用MultiSample™掃描進(jìn)行方便的樣品測量

Park XE15 MultiSample™ scan system
  • 一次性自動多樣品成像
  • 特別設(shè)計的多樣品卡盤,可裝載多達(dá)16個樣品
  • 全機(jī)動XY軸樣品臺,行程范圍達(dá)150 mm x 150 mm

借助電動樣品臺,MultiSample™掃描模式能夠允許用戶自行編程,借助自動化步進(jìn)掃描,實現(xiàn)多區(qū)域成像。

流程如下:
1.記錄用戶定義的多個掃描位置
2.在d一個掃描位置成像
3.提升懸臂
4.將電動樣品臺移至下一個用戶定義坐標(biāo)
5.探針接近
6.重復(fù)掃描

記錄多個掃描位置十分簡單,您可以輸入樣品-樣品臺坐標(biāo)或使用兩個參考點校正樣品位置。該自動化功能大大減少您在掃描過程中需要的工作,大大提高了生產(chǎn)力。

通過消除串?dāng)_進(jìn)行準(zhǔn)確的XY掃描

Park Systems的*串?dāng)_消除(XE)掃描系統(tǒng)能夠有效解決上述問題。我們使用了二維柔性平臺專門掃描樣品的XY軸位置,并通過壓電疊堆傳動裝置專門掃描探針懸臂的Z軸位置。用于XY軸掃描的柔性平臺采用了固體鋁材,其具有超高的正交性和出色的平面外運(yùn)動軌跡。柔性平臺可在XY軸掃描大型樣品(1 kg左右),頻率z高達(dá)100 Hz左右。由于XY軸的帶寬要求遠(yuǎn)低于Z軸的帶寬要求,因此該掃描速度已然足夠。用于Z軸掃描的壓電疊堆傳動裝置具有大的推拉力和高共振頻率(約10 kHz)。

二維柔性平板掃描儀,掃描范圍為10 µm x 10 µm

XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強(qiáng)度壓電疊堆,可在保持平面外運(yùn)動少的情況下,實現(xiàn)高正交運(yùn)動以及納米級樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計的。

柔性High Force Z掃描儀

憑借著高強(qiáng)度壓電疊堆和柔性結(jié)構(gòu),其可以允許掃描器以更高的速度縱向移動,這是傳統(tǒng)原子力顯微鏡中掃描器所無法做到的。大Z軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12 µm增至40µm(選購遠(yuǎn)距離Z軸掃描器)。

滑動鏈接SLD

燕尾式軌道設(shè)計,輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。借助超輻射發(fā)光二極管(SLD)的低相干性,顯微鏡可成像高度反光表面和精密測量pico-Newton力對距光譜。此外,超輻射發(fā)光二極管的波長也解決了干擾問題,讓用戶可隨意在可見光譜實驗中使用原子力顯微鏡。

多樣本卡盤

特別設(shè)計的多樣品卡盤,可裝載多達(dá)16個樣品,可由MultiSample自動掃描模式按序掃描。借助*的鏡頭設(shè)計,用戶可從側(cè)面輕易操作樣品和探針。

無障礙樣品架

*的鏡頭設(shè)計可掃描尺寸高為100 mm的樣品,且可輕易從側(cè)面更換樣品和探針。

手動XY樣品臺

在手動XY軸樣品臺的控制下,樣品的測量定位變得簡單。XY軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm。

手動光學(xué)平臺

同軸鏡頭可手動調(diào)焦。
  • 帶有控制器板中的DSP板的Park XE控制電子設(shè)備

    原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的Park XE電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計和高速處理單元,Park XE電子控制器成功實現(xiàn)了True Non-Contact™模式,這是納米級成像和準(zhǔn)確電壓電流測量的理想選擇。
    • 高性能處理單元,頻率達(dá)600 MHz,處理速度高達(dá)4800 MIPS
    • 低噪聲設(shè)計,帶來準(zhǔn)確的電流電壓測量
    • 全能系統(tǒng),融合各種掃描探針顯微鏡技術(shù)
    • 外部信號獲取模塊,獲取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
    • 大16幅數(shù)字圖像
    • 大分辨率:4096 × 4096
    • 16位ADC/DAC,頻率為500 kHz
    • 隔離通過TCP/IP連接的電腦電噪聲

掃描模式

可擴(kuò)展的AFM解決方案

支持Park行業(yè)中廣泛的SPM模式和選項

現(xiàn)如今,研究院需要描述不同測量條件和樣品條件下的各類物理性質(zhì)。Park Systems帶來業(yè)內(nèi)多的掃描探針顯微鏡模式、多的原子力顯微鏡選擇和兼容性和升級性,讓樣品*的表征掃描變得簡單。



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