S1000 放大倍率標(biāo)準(zhǔn)樣品 計量儀器

該標(biāo)樣用于掃描電鏡（包括電子探針等）儀器主要性能的校驗和檢驗，如圖像的放大倍率檢驗與調(diào)整、掃描圖像畸變的調(diào)整、像散調(diào)節(jié)以及樣品臺的復(fù)位檢驗等，是掃描電鏡儀器驗收、儀器年度檢驗、計量認(rèn)證、實驗室認(rèn)可等考核中，的標(biāo)準(zhǔn)樣品。同時，該標(biāo)準(zhǔn)樣品也是掃描電鏡微米納米長度測量的佳標(biāo)準(zhǔn)樣品、是微米長度測量的高可溯源級別的量值傳遞工具。是多個國家標(biāo)準(zhǔn)文件GB/W 27788、16594、17722、20307、JJG550等實施所必需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

特點：

1、擁有現(xiàn)代的加工工藝，研制技術(shù)本身具有足夠的精度等保證其質(zhì)量
2、底層鍍有純鈦層，表面有120nm厚的Au膜，可稱之為擁有特厚金層，不僅可長
期穩(wěn)定保存，而且具有極其良好的導(dǎo)電性
3、具有格柵狀雙向結(jié)構(gòu)，與早期使用的初級銅網(wǎng)結(jié)構(gòu)相似，   是國內(nèi)外以同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡、電子探針的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正的標(biāo)樣
4、有德國PTB*的計量型原子力顯微鏡的測量研究報告和研制者的研制報告正式發(fā)布(見“掃描電鏡測長問題的討論”一書)，即采用目前精度好、可溯源的檢測方法，有可靠的文獻(xiàn)依據(jù)
5、S1000曾經(jīng)過我國國家計量研究院的多次檢驗測試，并多次獲得合格證書；
6、S1000早在2005年通過微束標(biāo)委會的有關(guān)專家評審?fù)ㄟ^，具備報批國家標(biāo)準(zhǔn)樣品的資格，并且已經(jīng)過眾多用戶近十年的使用，證明其質(zhì)量優(yōu)良
7、公開出版的“掃描電鏡測長問題的討論”專著實際上是一本S1000的綜合性的研制報告；這也是這類標(biāo)樣中的；
8、價格低廉，易于保存、易于普及到每個掃描電鏡和電子探針實驗室
9、功能多，用途多
(1)可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正，是校準(zhǔn)從10×~100.000×及以上范圍的圖像放大倍率的有效的圖形標(biāo)準(zhǔn)樣品：是執(zhí)行GB/T27788“微束分析一掃描電鏡一圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則”一個的校準(zhǔn)標(biāo)樣
(2)可直接用于同一量級物體，毫米量級到納米量級長度的比對測量，是執(zhí)行GB/T16594和GB/T20307微米和納米測量的一個不能缺少的的度量工具
(3)可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進(jìn)行校驗，是評價掃描電鏡圖像質(zhì)量的一個重要工具
(4)對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗也有較好的作用

(5)利用標(biāo)樣上的“點子”圖像，可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復(fù)位檢驗

用途：
(1)可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進(jìn)行檢查或校正，是校準(zhǔn)從10×~100,000×范圍的圖像放大倍率的有效的圖形標(biāo)準(zhǔn)樣品
(2)可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進(jìn)行校驗，是評價掃描電鏡圖像質(zhì)量的個重要工具
(3)可直接用于同一量級物體長度的比對測量
(4)對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉(zhuǎn)調(diào)整功能的檢驗也有較好的作用
(5)利用標(biāo)樣上的“點子”圖像，可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復(fù)位檢驗

標(biāo)準(zhǔn)樣品的形狀、規(guī)格和包裝：
S1000微米一亞微米級系列標(biāo)樣，總體為5mm×5mm0.5mm(長×寬×厚)大小的小方塊。主體圖形為一個“回”字形的方框，外框邊長約為2mm,內(nèi)框的邊長約為12mm,內(nèi)框里面用X、Y軸分為4個象限，X、Y軸上制作有垂直坐標(biāo)軸方向的線距20um的短平行線條，4個象限上分別是線距為40um、20um10um的方格網(wǎng)狀圖形和線距為5um的X、Y雙向平行線條圖形，內(nèi)框的中部又是“回”字形的方框，大框的邊長約為160m,小框邊長約50um,大框和小框之間在X方向和Y方向上都有線距為5um的平行線條，小框里面是線距為1um或05um的X、Y雙向平行線條圖形(見圖1)，在5m和1um或05um的線距結(jié)構(gòu)上還有一些十字形和圓點，可用于在較大放大倍率下圖像的聚集和像散調(diào)整，不同的線距大小可用于從10×~10000放大倍率范圍的校準(zhǔn)，而把40um、20μm和10um的線距結(jié)構(gòu)設(shè)計成方格形，是為了在對放大倍率進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)的同時，可以對圖像的畸變、像散等進(jìn)行校驗，5μm的線距結(jié)構(gòu)也同時具有X、Y兩個方向的平行線條，是為了方便同時對X、Y兩個方向進(jìn)行放大倍的準(zhǔn)而不必機(jī)械旋轉(zhuǎn)標(biāo)準(zhǔn)器。
標(biāo)準(zhǔn)樣品的穩(wěn)定性：
標(biāo)準(zhǔn)樣品基質(zhì)材料為單晶硅或石英玻璃基片，材料性質(zhì)穩(wěn)定。在對標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行觀察時，可看到標(biāo)準(zhǔn)樣品具有良好的導(dǎo)電性，并且在掃描電鏡下所產(chǎn)生的圖形具有很好的對比度，在掃描電鏡下或光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行多次長時間的觀察后，未見標(biāo)準(zhǔn)樣品圖形或線距結(jié)構(gòu)發(fā)生變形或其他損壞，即標(biāo)準(zhǔn)樣品在電子束重復(fù)照射下是穩(wěn)定的

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