XTK-80系列耐腐蝕在線露點儀

 概述

本公司是瑞士 ROTRONIC 公司*OEM 露點儀制造廠家。公司經過長年研發(fā)和悉心鉆研世界低濕測量的核心技術，*后成功研發(fā)出了除維薩拉 DMT242 露點變送器以外的真正國產化的芯片加熱核心技術，成功打破了維薩拉公司在這方面的技術壟斷，經過多家公司的試用后均反饋很好，并送國家*嚴格測試符合國標。它的橫空出世將*降低企業(yè)的采購成本，*可以替代市場上-80℃以上的同類進口露點產品。

芯片加熱：所有水分測量探頭，經過一段時間工作，由于工作環(huán)境的不良（如：油污、粉塵、腐蝕、

酸堿氣體等），會對探頭造成傷害，引起探頭測量數(shù)據漂移產生偏差。能解決的辦法就是對芯片進

行高溫加熱。一般加熱在 160℃以上，持續(xù)幾分鐘，用于蒸發(fā)芯片上的水分及油污，保證它的零位準

確度。加熱階段，露點儀停止工作。經過幾分鐘冷卻，又可進入循環(huán)測量。 理論上講溫度變化與露

點溫度不存在關聯(lián)。溫度僅與相對濕度有關聯(lián)，所以探頭加熱不影響露點溫度測量。

加熱條件：我們的探頭啟動加熱條件，當外部氣體露點≤-40℃時，軟件自動開啟加熱條件。加熱溫

度為 170 度，持續(xù)四分鐘，然后進入冷卻階段 約 2 分鐘。用于探頭數(shù)據的平衡整理。為了保證探頭

在-40℃以上*干燥，我們的探頭溫度始終恒定在 30℃的環(huán)境工作（溫度與露點無關），用于阻止

細微的水汽與油污。所以我們有大加熱 170℃與小加熱 30℃。二者僅緊密結合，保證探頭始終位于干

燥環(huán)境。

技術參數(shù)