高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析JEM2100F

1. 獲得納米材料，金屬材料，陶瓷材料的微觀形貌，孔隙情況，樣品顆粒大小等；

2. 獲得材料的高分辨數(shù)據(jù)，晶格條紋，獲取晶體學參數(shù)；

3. 獲得材料衍射花紋，判斷材料晶體學參數(shù)；

4. 得到材料EDS信號，表征材料元素分布，半定量分析材料元素含量等，可進行面掃，點掃，線掃等方式；

高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標：

1、點分辨率：0.25nm；線分辨率：0.102nm；STEM分辨率：0.20nm

2、加速電壓：80，100，160，200KV

3、傾斜角（X/Y）：±42/±30°；

4、配備德國Bruker公司XFlash 5030T型X射線能譜儀

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；

2.各種材料微區(qū)化學成分的定性和半定量檢測；

3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測定；

4.復(fù)合材料界面特性的研究。