MiniTest 7400德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀

MiniTest7400成為今天測(cè)量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢(shì)直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡(jiǎn)易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，無需專業(yè)技能，也可在短的時(shí)間內(nèi)完成困難測(cè)量任務(wù)。

主要特點(diǎn)： 1.所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量 2.多種圖形顯示選項(xiàng) 3.菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理 4.用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件 5.測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭 6.SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性

SIDSP®技術(shù)
SIDSP®是由ElektroPhysik開發(fā)的涂層厚度傳感器技術(shù)。有了這項(xiàng)新技術(shù)，ElektroPhysik創(chuàng)新的涂層厚度測(cè)量的另一個(gè)新*。 SIDSP®代表傳感器集成的數(shù)字信號(hào)處理 - 在其中信號(hào)*處理成數(shù)字形式，在傳感器內(nèi)部的技術(shù)。 與常規(guī)技術(shù)不同，SIDSP®傳感器和控制內(nèi)部的傳感器的傳感器頭的激勵(lì)信號(hào)。返回信號(hào)直接轉(zhuǎn)換成數(shù)字，并在32位精度處理，給你完整的涂層厚度值。對(duì)于該技術(shù)中，均采用了高度復(fù)雜的數(shù)字信號(hào)處理方法。這使迄今實(shí)現(xiàn)了信號(hào)的質(zhì)量和精度的模擬信號(hào)處理。

MiniTest 7400德國(guó)EPK涂鍍層測(cè)厚儀

探頭技術(shù)參數(shù): 1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn) 2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近 3.使用精密支架，不適用HD探頭 4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作 5.根據(jù) DIN 55350第13部分 6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù). 7.包括涂層

校準(zhǔn)：為滿足應(yīng)用程序的要求，MiniTest 7400個(gè)傳感器可校準(zhǔn)多達(dá)5點(diǎn)(包括零位)。由于預(yù)定義的校準(zhǔn)和操作方法，儀器支持"ISO 19840；SSPC，"瑞典"、"澳大利亞"、"PSPC"等應(yīng)用規(guī)范并可進(jìn)行粗糙表面的測(cè)量。
MiniTest 7400系列提供了許多校準(zhǔn)方法，以滿足各種應(yīng)用程序、程序和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的個(gè)性化需求。如果批處理已建立，您可以根據(jù)每批選擇一個(gè)合適的校準(zhǔn)方法。如果您在測(cè)試模式下，在您已經(jīng)創(chuàng)建了批之后，或在稍后的時(shí)間，可以立即進(jìn)行校準(zhǔn)。打給計(jì)量模式的校準(zhǔn)功能，按下功能鍵。校準(zhǔn)方法只要當(dāng)前活動(dòng)的批處理中沒有讀數(shù)存儲(chǔ)時(shí)就可以更改

高精度測(cè)量支架
對(duì)于小物件和小幾何的讀數(shù)，推薦使用外部傳感器與高精度支架。