安捷倫二手質譜ICP-MS安捷倫電感耦合等離子體質譜儀

ICPMS 7500具有適應多種樣品類型、應用范圍廣泛、性能穩(wěn)定耐用的特點，是大多數常規(guī)實驗室和分析大批量樣品的商業(yè)實驗室的上佳選擇。ICPMS 7500 則是專為半導體行業(yè)應用而設計，具有半導體針對性的強大功能。這兩種型號都具有性能和易于使用的優(yōu)點，即使您面對的是棘手的樣品基體，它們都能為您獲取值得信賴的分析結果。

7500系列ICP-MS不但配置了新的軟件平臺，而且在儀器硬件方面也進行了革新設計，包括全新數字控制式射頻匹配的RF發(fā)生器和第三代八極桿碰撞/反應池系統(ORS3)。安捷倫 ICP-MS  7500憑借第三代碰撞/ 反應池(ORS3) 為復雜高基體樣品的分析提供了準確性，它重新定義了碰撞/反應池：僅使用氦氣碰撞即可消除所有可能的質譜干擾！

安捷倫二手質譜ICP-MS參數：

1. 靈敏度： 
低質量數 Li(7): 3 50 Mcps/ppm； 
中質量數 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
高質量數 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據用戶特殊需求，可提供超高靈敏度功能 
2. 檢測限： 
低質量數 Be(9): ￡ 0.5 ppt； 
中質量數 In(115): ￡ 0.1 ppt 
高質量數 Bi(209): ￡ 0.1 ppt 
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)；  3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 % 
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1% 
6. 質譜范圍：2 - 260 amu； 
7 豐度靈敏度 ：
低質量端: ￡ 5 x 10-7 
高質量端: ￡ 1 x 10-7 

特征去除干擾的 ORS 技術
用于提高研究/物種形成應用所需的靈敏度的軸上反應池
使用簡單的氦氣和氫氣消除對砷、硒、鉻、釩和鐵等關鍵元素的多原子干擾
無需矩陣匹配、元素特定優(yōu)化或干擾方程即可消除干擾
高透射離子透鏡（離軸離子透鏡）——提高靈敏度和基質耐受性
易于設置和用于復雜的、通常未知的樣品基質的常規(guī)痕量分析 - 保留 ICP-MS 作為多元素測量技術的全部功能
在同一分析運行中，動態(tài)范圍從砷和硒的低 ppt 到鈉的 1000 ppm，從而無需額外的分析技術，例如 ICP-OES、GFAAS 和冷蒸氣。
標準模式（無池氣體）也可用于*靈活的操作
為高基質應用優(yōu)化的進樣系統