XAD系列熒光光譜儀是一款全元素上照式光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，*的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

性能優(yōu)勢：

1. 微小樣品檢測：最小測量面積0.0085mm2

2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-90mm

3. 核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量

4. *的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限

5. 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積50mm2探測器

6. X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置

7. 上照式設(shè)計：實現(xiàn)對超大樣品或者密集點位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量

8. 大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺200*200mm

應(yīng)用領(lǐng)域：

涂鍍層分析-RoHS檢測-地礦全元素分析-合金、貴金屬檢測

涂鍍層分析

行業(yè)應(yīng)用：

巧妙的結(jié)構(gòu)設(shè)計：

一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達(dá)到視覺與測試定位一體，且X光擴散度??；與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能，實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。

核心EFP算法：

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

RoHS領(lǐng)域

合金、貴金屬、地礦檢測

技術(shù)參數(shù)表