Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈SL8500系列簡介

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500系列是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學鏡片折射出特殊波長的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統(tǒng)的照明設備和光學系統(tǒng)機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 SL8500-GY黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長光，來做簡單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復合光，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達15萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強10倍.。（注意：SL8500系列檢查燈的亮度只有15萬LX ;如果有更高的測試要求請使用SL8900和SL8600系列的檢查燈，SL8600亮度有30萬LX,SL8900的亮度是40萬LX）(底部有視頻講解)。

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500參數(shù)規(guī)格
型號：SL8500-GY高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
光 源：20W 高亮度進口LED加定制的光學鏡片； LED平均壽命是30000小時
照度：距離40cm → 9萬lx；距離30cm → 15萬 lx（我們掌握了核心技術，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積：  8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調(diào)焦距調(diào)光）
調(diào)光方式： 無極調(diào)光：從0% ~ 99.99999%；消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時持續(xù)無間斷工作。
平行光強的穩(wěn)定性： > 90 ％
產(chǎn)品尺寸：53 * 220mm;  凈重： 0.53KG(不含配件

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500特點
1.1個大功率20W LED,.真正冷光源，亮度達到15萬LX;照度相當100瓦的汞燈
2.LED使用壽命高達3萬個小時;壽命是汞燈的10倍
3.使用定制的光學透鏡和濾光片，檢查燈的均勻性能達到90%以上；
產(chǎn)品的光均勻性及光斑大小，經(jīng)檢測證實效果要優(yōu)于日、德同類產(chǎn)品。
4.發(fā)黃綠光和白光，人眼易感知且又不傷眼，可精確檢查到10um以下的刮痕或微粒子；
5. 合理的外觀設計，，能提供均勻且高亮度特殊波長和色溫的檢查光源；
6：可選擇不同波段光源：365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波；
白光：刮傷以及對不同層次的鍍膜均勻或微污染有很好的效果。
綠光：微刮傷、粉塵異物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被檢出。尤其是表面的微刮傷。
黃光：微刻模具、半導體晶圓、藍寶石。對鍍膜檢查效果不錯。

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈SL8500應用
LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、 玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查、 液晶玻璃、微刻模具、半導體晶圓、藍寶石