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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>其它光譜儀>詳詢 Andor光譜儀與偵測(cè)器

詳詢 Andor光譜儀與偵測(cè)器

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 無(wú)錫浩輝者新材料科技有限公司
  • 品牌 OXFORD/英國(guó)牛津
  • 型號(hào) 詳詢
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間 2024/9/9 10:32:48
  • 訪問(wèn)次數(shù) 663

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


  • 無(wú)錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí),我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過(guò)程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務(wù)于各大專院校、研究機(jī)構(gòu)、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè),期望對(duì)國(guó)內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。

  •        浩輝者科技在過(guò)去服務(wù)對(duì)象中,成功建立了原位分析模式,如溫度、壓力與電位等之檢測(cè)分析平臺(tái),用以了解相關(guān)材料在實(shí)際應(yīng)用操作下的物理化學(xué)特性。包含掃描探針顯微鏡、光學(xué)顯微鏡用以進(jìn)行材料之表面型態(tài)以及表面物理特性分析;顯微三維掃描共軛焦拉曼光譜、顯微紅外光分析儀、X射線繞射儀用以進(jìn)行材料之鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)分析;X射線熒光分析儀用以進(jìn)行成分原素組成比例分析;熱重分析串接紅外光譜與氣相層析質(zhì)譜儀用以辨別化學(xué)結(jié)構(gòu)物質(zhì)之比例組成,透過(guò)不同溫度之熱裂解更可進(jìn)一步了解材料內(nèi)部之相關(guān)添加物質(zhì),并結(jié)合鍵結(jié)型態(tài)、官能基型態(tài)以及晶體結(jié)構(gòu)狀態(tài)可進(jìn)一步推廣至逆向工程檢測(cè)服務(wù)平臺(tái)。透過(guò)浩輝者科技的材料檢測(cè)分析與逆向工程分析儀器技術(shù)平臺(tái),可得知各種材料的完整物理化學(xué)特性。

  •        由于科技不斷的創(chuàng)新進(jìn)步,浩輝者也在積極地尋找并開(kāi)發(fā)*的光譜&影像關(guān)鍵技術(shù)及All-in-one多功能產(chǎn)品提供給顧客,公司所有同仁更努力不懈求創(chuàng)新、求進(jìn)步,期望能提供顧客優(yōu)質(zhì)的服務(wù)及質(zhì)量,并在未來(lái)與顧客共同成長(zhǎng)茁壯。

 

光譜儀,偵測(cè)器,可攜式拉曼,熒光光譜系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電子/電池

Andor光譜儀與偵測(cè)器特色:

√Solis軟件接口可進(jìn)行各種光譜實(shí)驗(yàn)偵測(cè)

√依光譜儀聚焦長(zhǎng)度可選擇 Kymera 193i、328i 、Shamrock 500i and 750

√光譜儀雙向輸出設(shè)計(jì)可使用不同光譜范圍之偵測(cè)器

√自動(dòng)化狹縫控制


Andor光譜儀與偵測(cè)器

Andor光譜儀與偵測(cè)器應(yīng)用:

√吸收-透射-反射(UV-NIR)

√顯微拉曼/熒光光譜

√多通道光譜偵測(cè)

√時(shí)間解析光譜


iDus CCD Cameras

波長(zhǎng)為2.2 µm

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


Newton CCD

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iVac CCD Cameras

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iXon EMCCD Camera

200-1100 nm

Andor光譜儀與偵測(cè)器


iDus InGaAs

•iDus 1.7µm InGaAs

900-1700 nm

•iDus 2.2µm InGaAs

1000-2200 nm


Andor光譜儀與偵測(cè)器


無(wú)錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗(yàn)及對(duì)檢測(cè)設(shè)備及技術(shù)的研發(fā)與應(yīng)用,為客戶提供材料檢測(cè)分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術(shù),以及其性能限制,為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時(shí),我們會(huì)幫助輔導(dǎo)客戶完成整個(gè)分析過(guò)程,得到客戶所需要的答案及結(jié)果。也可依顧客需求,提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。





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