光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/7/4 16:58:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 281
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類(lèi) | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣 |
光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D
核心參數(shù)
產(chǎn)品種類(lèi):非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
工作原理:白光干涉儀
產(chǎn)品介紹
簡(jiǎn)介
NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)是一款針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng),提供高效的三維表面信息測(cè)量,具備垂直方向亞納米分辨率,能靈活測(cè)量大尺寸及特殊角度的樣品。該系統(tǒng)基于白光干涉原理,可快速獲取詳細(xì)測(cè)量數(shù)據(jù),適用于精密制造業(yè),提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。它還提供了多種配件選擇,以滿足不同客戶的測(cè)量需求。
NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)
針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)
靈活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測(cè)量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)試過(guò)程迅速高效
NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測(cè)量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來(lái)的檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x(CMM)和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)包括獲得高分辨的三維圖像,進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),NPFLEXTM是第一個(gè)可以靈活地測(cè)量大尺寸樣品的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品
創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測(cè)零件(樣品)更大、形狀更多
開(kāi)放式龍門(mén)、客戶定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)部位
高效的三維表面信息測(cè)量
每次測(cè)量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
更容易獲得更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測(cè)量象素點(diǎn)上的亞納米級(jí)別垂直分辨率
工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提供保障
測(cè)量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測(cè)試的迅速和高效
最少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測(cè)量準(zhǔn)備時(shí)間
比接觸法測(cè)量(一條線)更大的視場(chǎng)(一個(gè)面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)